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ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004)
Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

INTRODUCTION

본 규격은 재료에 관계없이 평균 Grain size를 결정하는 방법으로 기본적인 개념은 Grain, Crystal, 또는 Cell의 평균 크기를 예측하는데 사용하며 표준 비교 Chart가 있는 경우는 비교방법을 사용한다. Intercept 와 Planimetric (면적측정) 방법은 어느 경우에나 사용하나 Comparison charts는 개별 Grain의 측정에는 사용할 수 없다.
本规格是一种确定平均晶粒尺寸的方法，与材料无关，基本概念是用于预测晶粒、晶体或细胞的平均大小，并在有标准比较图的情况下使用比较方法。拦截法和平面测量法在任何情况下都可以使用，但比较图不能用于单个晶粒的测量。

1. 범위

1.1 Planimetric (or Jeffries) procedure 와 Intercept procedures의 비교를 포함한 평균 Grain size의 측정 방법으로 금속 구조와 유사한 비금속 구조에도 적용가능하며 주로 단일 Phase에 적용하나 특별한 구조나 복합 Phase나 요소에도 적용 가능
1.1 平面法（或杰弗里斯法）和拦截法的比较，包括测量平均晶粒尺寸的方法，可适用于类似金属结构的非金属结构，主要适用于单一相，但也可适用于特殊结构或复合相或元素。

1.2 본 규격은 Grain 크기, 직경 또는 Intercept lengths의 최빈값 분포를 포함하는 시편의 평균 Grain 크기를 결정하는데 사용. 이 분포는 대략적으로 Log normal.
1.2 本规格用于确定试样的平均晶粒尺寸，其中包括 Grain 大小、直径或截距长度的最频值分布。该分布大致为对数正态分布。

2중 Grain 크기 분포를 가지는 시편의 특성은 ASTME 1181를 참조하고 작은 Grain matrix에 큰 Grain이 있는 경우는 ASTM E 930을 참조

1.3 본 규격은 2차원적인 특성평가로서 3차원적인 측정은 본 규격에서는 거론하지 않는다.
1.3 本规格是二维特性评估，三维测量在本规格中不涉及。

1.4 시험방법을 설명

1.5 본 규격은 단지 시험방법에 대한 것이며 여타 사항에 대한 것은 고려하지 않음.
1.5 本规格仅适用于测试方法，不考虑其他事项。

1.6 SI Units가 표준이며 Inch-pound 값은 참고 값
1.6 SI 单位是标准单位，英制单位值为参考值

1.7 본 규격은 안전에 관해 언급하지 않았으며, 사용에 있어 안전과 관련이 있을 경우 사용 전 적합한 안전과 건강에 대한 절차의 확립은 사용자에게 책임이 있다.
1.7 本规格未涉及安全问题，但如果与使用安全有关，用户有责任在使用前建立适当的安全和健康程序。

1.8 순서

Section

Scope

Referenced Documents

Terminology

Significance and Use

Generalities of Application

Sampling

Test Specimens

Calibration

Preparation of Photomicrographs 9

Comparison Procedure 10

Planimetric (Jeffries) Procedure 11

General Intercept Procedures 12

Heyn Linear Intercept Procedure 13

Circular Intercept Procedures 14

Hilliard Single-Circle Procedure 14.2

Specimens with Non-equiaxed Grain Shapes 16

Specimens Containing Two or More Phases or Constituents 17

Report 18

Precision and Bias 19

Keywords 20

Annexes:

Basis of ASTM Grain Size Numbers Annex A1

Equations for Conversions Among Various Grain Size Measurements Annex A2

Austenite Grain Size, Ferritic and Austenitic Steels Annex A3

Fracture Grain Size Method

Annex A4

Requirements for Wrought Copper and Copper-Base Alloys Annex A5

Application to Special Situations

Annex A6

Appendixes:

Results of Interlaboratory Grain Size Determinations Appendix X1

Referenced Adjuncts

2. 참고자료

2.1 ASTM Standards

E 3 Practice for Preparation of Metallographic Specimens

E 7 Terminology Relating to Metallography

E 407 Practice for Microetching Metals and Alloys

E 562 Practice for Determining Volume Fraction by Systematic Manual Point Count

E 691 Practice for Conducting an Interlaboratory Study to Determine the Precision of a Test Method

E 883 Guide for Reflected-Light Photomicrography

E 930 Test Methods for Estimating the Largest Grain Observed in a Metallographic Section (ALA Grain Size)

E 1181 Test Methods for Characterizing Duplex Grain Sizes

E 1382 Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis

2.2 ASTM Adjuncts:

2.2.1 For a complete adjunct list, see Appendix X2

용어

3.1 정의-Terminology E 7에 준함

3.2본 규격에 대한 용어정의
3.2 规范的术语定义

3.2.1 ASTM grain size number-ASTM grain size number, G

는

에서

당 Grain 수.

배율에서

당 수는 15.50 을 곱함

在

处的粮食数量。在

倍率下，每

单位为 15.50。

3.2.2 Grain-2차 또는 3차원적으로 둘러 쌓인 면적. Twin boundaries는 무시하여 하나의 Grain으로 평가
3.2.2 粒界-被第二或第三维度包围的区域。忽略双晶界，将其评估为一个晶粒。

3.2.3 Grain boundary intersection count-Test line과 만나는 입계의 수로서 경계에 걸리는 경우에는 1/2로 계산
3.2.3 颗粒界面交叉计数-当与测试线相交的颗粒界面数，如果横跨边界，则计为 1/2。

3.2.4 Grain intercept count-Test line과 만나는 Grain의 수로 경계에 걸리는 경우에는

로 계산
3.2.4 粮食拦截计数-当与测试线相遇的粮食数量达到边界时，计为

3.2.5 Intercept length—두 개의 근접한 Grain boundary intersection points사이의 거리

3.3 Symbols

Matrix grains in a two phase (constituent) microstructure

Test area.

Mean grain cross sectional area

Grain elongation ratio or anisotropy index for a longitudinally oriented plane.

Mean planar grain diameter (Plate III)

Mean spatial (volumetric) grain diameter.

Jeffries multiplier for planimetric method.

ASTM grain size number.

Mean lineal intercept length.

Mean lineal intercept length of the a matrix phase in a two phase (constituent) microstructure.

Mean lineal intercept length on a longitudinally oriented surface for a nonequiaxed grain structure.

Mean lineal intercept length on a transversely oriented surface for a nonequiaxed grain structure.

Mean lineal intercept length on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

Base intercept length of

for defining the relationship between

and (and

) for macroscopically or microscopically determined grain size by the intercept method.

Length of a test line.

Magnification used.

Magnification used by a chart picture series.

Number of fields measured.

Number of a grains intercepted by the test line in a two phase (constituent) microstructure.

Number of grains per

Number of a grains per mm2 at

in a two phase (constituent) microstructure.

Number of grains per inch2 at 100X.

on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

Number of intercepts with a test line.

Number of grains completely within a test circle.

Intercepted

Number of grains intercepted by the test circle.

Number of intercepts per unit length of test line.

on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

Number of grain boundary intersections with a test line.

Number of grain boundary intersections per unit length of test line.

on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.

Correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for microscopically determined grain sizes.

Correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for macroscopically determined grain sizes.

Standard deviation.

Grain boundary surface area to volume ratio for a single phase structure.

Grain boundary surface area to volume ratio for a two phase (constituent) structure.

Students'

multiplier for determination of the confidence interval.

Volume fraction of the a phase in a two phase (constituent) microstructure.

confidence interval.

Percent relative accuracy

4. 의미와 사용

4.1 본 시험방법은 단상으로 구성된 금속 시편의 평균입도를 결정하는 과정을 포함하며 비교 Chart에 보여주는 금속구조와 유사한 구조에도 사용한다. 기본적인 세가지 방법은 다음과 같다.
4.1 本测试方法包括确定由单相金属试样组成的平均粒度的过程，并且也适用于具有类似金属结构的结构，显示在比较图表中。基本的三种方法如下。

4.1.1 비교법-이 방법은 각 Grain, Intercepts, Intersections을 셀 필요가 없으나 Wall chart, Clear plastic overlays, 또는 Eyepiece reticle 등의 Graded image가 필요하며 Grain이 큰 경우는

정도 낮게 오차가 발생한다. (X1.3.5 참조)
4.1.1 比较法-这种方法不需要计算每个颗粒、截距、交点，但需要壁图、透明塑料叠层或目镜网格等评分图像，当颗粒较大时，误差可能会低约

。(参见 X1.3.5)

Repeatability 및 Reproducibility는 약

Grain size number

4.1.2 Planimetric Procedure-Planimetric method (면적법)는 일정 영역에 있는 Grain 수를 직접 세는 방법으로
4.1.2 平面程序-平面法（面积法）是直接计算特定区域内的颗粒数量的方法。

단위면적당 Grain 수

는 ASTM grain size number,

의 계산에 사용한다. 정밀도는 Grain 수의 함수.
单位面积的晶粒数

是 ASTM 晶粒尺寸编号

的计算所用。精度取决于晶粒数。

약

Grain size units의 정밀도를 가지며 결과는 비교적 오차가 적으며 Repeatability와 Reproducibility는

grain size 단위보다 작다. 정확하게 측정하려면 이미 측정한 Grain은 표시를 하여야 한다.
具有约

颗粒尺寸单位的精度，结果相对误差较小，重复性和再现性比

颗粒尺寸单位小。要准确测量，必须标记已测量的颗粒。

4.1.3 Intercept Procedure-이 방법은 시험 Line과 만나는 Grain 또는 Grain boundary의 수를 측정하여 단위 길이 당 수를 구하고 평균 Lineal intercept length,

를 구한다. 이

는 ASTM grain size number, G를 결정. 이 방법의 정밀도는 Intercepts 또는 Intersections 수의 함수이다.

Grain size units 정밀도가 가능하며 결과는 비교적 오차가 적으며 Repeatability와 Reproducibility는

Grain size 단위보다 작다.
4.1.3 拦截程序-该方法通过测量与测试线相交的颗粒或晶界的数量来计算每单位长度的数量，并计算平均线性拦截长度，

。这个

确定了 ASTM 晶粒尺寸编号 G。该方法的精度是拦截或交叉点数量的函数。

晶粒尺寸单位的精度是可能的，结果相对误差较小，重复性和再现性比

晶粒尺寸单位小。

Planimetric 방법보다 빠른 편.

4.2 Grain의 크기가 거의 일정할 경우에는 Chart 비교법이 가정 유효하며 충분히 정확한 방법이나 일정하지 않은 경우에는 Intercept 또는 Pplanimetric 방법을 사용하는 것이 정확하며 이중 Intercept 방법이 더 효율적. 4.3 논란이 있는 경우에는 Intercept 방법을 따른다.
4.2 如果 Grain 的大小几乎是固定的，那么 Chart 比较法是有效的且足够准确的方法，但如果大小不一致，则使用 Intercept 或 Pplanimetric 方法更准确，其中 Intercept 方法更有效。4.3 在有争议的情况下，应采用 Intercept 方法。

4.4 심한 가공을 한 경우에는 평균 입도를 예상하면 안 된다. 부분적인 재결정이나 적당히 가공된 재료의 경우 입도를 측정하여야 한다면 Grain크기는 동일하지 않다고 고려한다.
4.4 如果进行了严重的加工，则不应预期平均粒径。对于部分再结晶或适当加工的材料，应考虑粒径不相同。

4.5 표준 비교 Chart를 이용하여 개별적인 Grain의 크기를 측정하면 안 된다. 이 Charts는 일반적인 Grain 크기의 Log-normal 분포를 반영하도록 구성. Grain의 3차원적인 배열 및 단면에 좌우되는 매우 작은 크기부터 매우 큰 크기의 영역을 가지는 Grain 분포를 나타내므로 Chart는 각 Grain의 측정에 사용할 수는 없다.
不应使用标准比较图表来测量单个颗粒的大小。这些图表被设计为反映一般颗粒大小的对数正态分布。由于颗粒具有三维排列和受截面影响的非常小到非常大的范围，因此图表不能用于测量每个颗粒。

5. 응용의 일반성

5.1 이런 방법들을 사용하여 평균입도를 예측한다는 것이 부정확하다는 것을 인식하는 것이 중요. 어떤 영상이나 두 가지의 결과는 정확히 일치 하지 않는다.
5.1 使用这些方法来预测平均入度是不准确的，认识到这一点是很重要的。任何图像或两个结果都不会完全匹配。

5.2 Grain의 크기 및 위치는 일반적으로 완전히 불 균일하다. 따라서 측정 Field의 선택은 가급적 모재의 특성을 대별할 수 있는 부분을 선택하여야 정확한 평균입도를 구할 수 있다. 따라서 편견 없이 상을 선택하는 다양한 방법을 사용하여야만 정확한 측정이 가능하다.
5.2 粒子的大小和位置通常是非常不均匀的。因此，应尽量选择能够代表颗粒特性的部分来测量颗粒。只有使用不带偏见的选择方法，才能进行准确的测量。

6. Sampling

6.1 시편은 평균적인 조건을 나타낼 수 있도록 준비하여야 하며 시편위치, 빈도 등은 제조자와 사용자의 합의 따른다.
6.1 诗篇应该准备得以反映一般条件，诗篇的位置、频率等应根据制造商和用户的协商确定。

6.2 시편은 Grain의 변형이 일어나는 곳 즉 Shearing, Burning 근처에서 채취 금지
6.2 诗篇是在 Grain 变形发生的地方，即剪切、燃烧附近禁止采集

7. 시편

7.1 Grain 구조가 등축정이라면 방향에 상관 없으나 변형 축과 평행한 면에서 측정하는 것이 일반적.
7.1 如果晶粒结构是等轴晶，则测量方向无关紧要，但通常是在变形轴和平行面上进行测量。

7.2 만일 횡축으로 방향성을 가지는 시편이 등축정이고 입도측정을 이 면에서 한다면 이 방법의 정밀도를 가지는 값을 얻을 수 있다. 만일 Grain이 등축정이 아니라면 즉 한쪽으로 연신된 상태라면 방향에 따라 달라진다. 이 경우 Grain의 크기는 3축 Transverse, Longitudinal, Planar 중 적어도 2축에서 검증하여 평균값을 16장에 따라 구한다. 만일 Directed test lines을 사용한다면 Non-equiaxed grains에 대한 Intercept counts는
7.2 如果具有横轴方向性的晶粒是等轴的，并且在此面上进行入射角测量，则可以获得具有此方法精度的值。如果晶粒不是等轴的，即朝向一侧延伸，则取决于方向。在这种情况下，晶粒的尺寸在 3 轴横向、纵向、平面中至少在 2 轴上进行验证，并根据 16 张平均值计算。如果使用定向测试线，则非等轴晶粒的截距计数是

2축에서도 가능하나 Planimetric 방법에서는 3축에서 평균을 낸다.
在 2 轴上也是可能的，但在平面法中，是在 3 轴上取平均值。

7.3 Polishing 면적은 박판이나 Wire가 아니라면 측정 배율에서 적어도 5 번 정도를 측정할 수 있는 면적을 가져야 하며 일반적으로

가 적당.
7.3 抛光面积应该具有至少可以测量 5 次的测量倍率，除非是板材或线材，通常

是合适的。

7.4 시편은 절단 후 Mounting, Grinding, Polishing을 ASTM E 3에 따라 준비하고 ASTM E 407에 따라 모든 입계가 나타나도록 부식하여 준비. (Annex A3참조)
7.4 詩篇在切割后进行上样、研磨、抛光，按照 ASTM E 3 准备，并按照 ASTM E 407 腐蚀以确保所有晶界都显现。 (参见附录 A3)

TABLE 1 Suggested Comparison Charts for Metallic Materials

NOTE 1-본 제안은 산업체의 실제방법에 기반.
注意 1-本提案基于工业界的实际方法。

특별한 방법에 따라 준비한 시편에 8.2에 따라 적절한 비교표준을 선택
根据特殊方法准备的诗篇，根据 8.2 选择适当的比较标准

Material	Plate Number	Basic Magnification
Aluminum	I
Copper and copper-base alloys (see	III or IV
Annex A4)
Iron and steel:	II or IV
Austenitic	I
Ferritic	IV
Carburized	II
Stainless	II II
Magnesium and magnesium-base alloys	I or II
Nickel and nickel-base alloys	I or II
Super-strength alloys	I or II
Zinc and zinc-base alloys

교정

8.1 Stage micrometer를 사용하여 각 Objective, Eyepiece, Bellows의 실제 배율을

이내로 교정 8.2 Grid로 사용하는 Straight test lines 또는 Test circles의 직경을

scale로 교정
8.1 使用舞台目镜器校准每个物镜、目镜和伸缩镜的实际放大倍率，误差在

以内 8.2 用网格校准直线测试线或测试圆的直径，比例为

9. Preparation of Photomicrographs

9.1 Photomicrographs를 사용하는 경우 ASTM E 883에 따라 준비
9.1 使用光学显微镜时，按照 ASTM E 883 准备

Comparison Procedure (비교법)

10.1 이 방법은 등축정을 가지는 완전 재결정 조직이나 주조재료에 적용
10.1 这种方法适用于具有等轴晶的完全再结晶组织或铸造材料。

10.2 좀 더 편리한 비교법을 사용하는 경우 조심하지 않으면 오차가 발생
10.2 使用更方便的比较方法时，如果不小心，可能会出现误差

오차를 줄이기 위하여 비교 Charts는 아래와 같이 4 분류를 사용
为了减少误差，比较图表使用以下 4 个分类

10.2.1 Plate I—Untwinned grains (flat etch),

기준

Grain size numbers

10.2.2 Plate II—Twinned grains (flat etch). grain size numbers, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, at 100X

10.2.3 Plate III—Twinned grains (contrast etch). nominal grain diameters

10.2.4 Plate IV—Austenite grains in steel (McQuaid-Ehn) grain size numbers 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, at 100X

10.3 Table 1은 평균 입도를 측정할 때 재질에 따른 비교 Chart를 예시하며 예로 Twinned copper 및 Brass의
10.3 表 1 是一个比较图表的例子，用于测量不同材料的平均粒径，例如孪晶铜和黄铜。

Contrast etch 경우 Plate III 사용

NOTE 1-Plates I, II, III, IV 는 Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, and Fig. 4 참조

10.4 미세조직학적으로 결정하는 Grain size의 예상은 적절한 Chart와 같은 배율에서 직접 비교하여 결정.
10.4 通过细胞组织学确定的晶粒尺寸的预期是通过在适当的图表上直接比较来确定的。

FIG. 1 Example of Untwinned Grains (Flat Etch) from Plate I. Grain Size No. 3 at 100X

FIG. 2 Example of Twin Grains (Flat Etch) from Plate II. Grain Size No. 3 at 100X

FIG. 3 Example of Twin Grains (Contrast Etch) from Plate III. Grain Size

10.5 관측자 입장에서 평균입도를 정확하게 평가하기 위해서는 사용하는 배율, 적절한 면적, 선택되는 시편의 위치 및 수량, Field의 수를 잘 선택하여야 한다. 적정한 면적의 선택은 5.2장 참조 10.6 Grain size의 예상은 각 시편에서 적어도 3곳 이상에서 측정하여 평가.
10.5 从观察者的角度来准确评估平均颗粒尺寸，需要选择适当的放大倍数、适当的面积、选择的试样位置和数量，以及正确选择 Field 的数量。选择适当的面积请参考 5.2 节 10.6 颗粒尺寸的预期是在每个试样中至少从 3 个位置进行测量以评估。

FIG. 4 Example of Austenite Grains in Steel from Plate IV. Grain Size No. 3 at 100X

TABLE 2 Microscopically Determined Grain Size Relationships Using Plate III at Various Magnifications NOTE 1-First line—mean grain diameter,

, in

; in parentheses-equivalent ASTM grain size number,

. NOTE 2-Magnification for Plate III is 75X (row 3 data). Magnification
表 2 使用不同放大倍率在第三页上确定的显微镜下晶粒尺寸关系注意 1-第一行-平均晶粒直径，

，单位

；括号内-等效 ASTM 晶粒尺寸编号，

。注意 2-第三页的放大倍率为 75 倍（第 3 行数据）。放大倍率

Magnification

Chart Picture Number (Plate III)

0.015

0.030

0.045

0.060

0.075

0.105

0.135

0.150

0.180

0.210

0.270

0.360

0.451

0.600

0.0075

0.015

0.0225

0.030

0.0375

0.053

0.0675

0.075

0.090

0.105

0.135

0.180

0.225

0.300

0.005

0.010

0.015

0.020

0.025

0.035

0.045

0.050

0.060

0.070

0.090

0.120

0.150

0.200

0.00375

0.0075

0.0112

0.015

0.019

0.026

0.034

0.0375

0.045

0.053

0.067

0.090

0.113

0.150

0.0019

0.00375

0.0056

0.0075

0.009

0.013

0.017

0.019

0.0225

0.026

0.034

0.045

0.056

0.075

0.0025

0.0037

0.005

0.006

0.009

0.011

0.0125

0.015

0.0175

0.0225

0.030

0.0375

0.050

0.003

0.004

0.005

0.007

0.009

0.010

0.012

0.014

0.018

0.024

0.030

0.040

10.7 Grains이 표준 Photographs영역 바깥인 경우에나

배의 배율이 적절치 않은 경우는 Note 2 및 Table2와 같이 다른 배율을 적용할 수 있다. 이 경우 적용한 배율을 단순히 기존 배율에 곱하여 사용
10.7 Grains 如果超出标准 Photographs 区域，或者

倍放大倍率不合适的情况下，可以应用不同的倍率，如注 2 和表 2 所示。在这种情况下，所应用的倍率只需简单地乘以现有倍率。

NOTE 2-Grain size를 ASTM numbers로 표시하는 경우 아래 관계식을 사용
注意 2-当用 ASTM 编号表示晶粒尺寸时，请使用以下关系式

는 보정계수로서 실제 ASTM grain-size number에 상응하는 기존배율

(75X or 100X) 대신 배율

에서 보이듯이 시편의 Apparent micro-grain size에 더한다. 따라서 25X의 경우, 실제 ASTM grain-size number는 100X

의 경우보다 4 가 낮다. 같은 맥락으로

의 경우 실제 ASTM grain-size number는

에서 보다 4만큼 높다.

是一个校正系数，它在实际的 ASTM 晶粒尺寸编号上，相对于原有放大倍率

（75X 或 100X），添加到样品的表观微粒尺寸上，如放大倍率

所示。因此，在 25X 的情况下，实际的 ASTM 晶粒尺寸编号比 100X 的情况低 4。同样地，在

的情况下，实际的 ASTM 晶粒尺寸编号比

高 4。

10.8 Chart series중 양 끝단, 즉 가장 거친 Size 00은 Grain의 수가 적고 Grain이 매우 작은 경우는 정확한 비교가 어렵다. Grain 크기가 양단에 걸리는 경우에는 배율을 조절하여 Chart의 중심에 오도록 조절하는 것이 의미 있는 분석이 가능하다.
10.8 图表系列中的两端，即最粗糙的 Size 00，当颗粒数量少且颗粒非常小的情况下，精确比较变得困难。当颗粒大小位于两端时，通过调整比例尺使图表中心对齐是可以进行有意义的分析的。

10.9 Microscope screen image에 Wall chart를 사용하는 것 보다는 투명지 또는 인쇄된 표준과 측정할 조직을 나란히 놓고 비교하는 것을 선호한다.
10.9 我更喜欢将透明片或印刷的标准与要测量的组织并排放置，而不是在显微镜屏幕图像上使用墙图。

10.10 측정자 사이의 약간의 차이는 문제가 없다.
10.10 测量者之间的轻微差异并不是问题。

10.11 측정자가 반복하여 측정하는 경우 초기 예상한 값에 대한 편견을 가질 수 있으므로 배율이나 렌즈 등을 바꾸는 방법으로 극복
10.11 如果测量者重复测量，可能会对最初预期的值产生偏见，因此可以通过更改倍率或镜头等方式来克服。

10.12 매우 큰 Grain의 경우는 적절히 준비된 시편이나 시편을 나타내는 사진을 표준 Grain series인 Plate I (Un-twinned 재료), Plates II, III (Twinned 재료)와 실 배율(1X)로 직접 비교하여 Grain size를 추정.
10.12 对于非常大的晶粒，可以通过适当准备的样品或代表晶粒的照片，直接与标准晶粒系列 Plate I（非孪晶材料）、Plate II、III（孪晶材料）进行比较，并估计晶粒尺寸。

표준 Grain size series는 75배나 100배로 만들어 졌기 때문에 이 방법으로 예측한 Grain size는 표준 ASTM grain-size series에 포함되지 않으므로 평균 Grain 직경이나 Table 3에 명시된 Macro-grain size numbers로 표시하여야 한다. 너무 작은 Macroscopic grain sizes는 이 방법을 사용하려면 고 배율과 Note 3의 보정값을 사용한다.
标准晶粒尺寸系列是通过扩大 75 倍或 100 倍制成的，因此通过这种方法预测的晶粒尺寸不包括在标准 ASTM 晶粒尺寸系列中，因此应该用平均晶粒直径或表 3 中列出的宏观晶粒尺寸数字来表示。如果宏观晶粒尺寸太小，则在使用此方法时需要使用高倍率和注释 3 中的校正值。

NOTE 3-ASTM macro-grain size numbers로 표시한다면 아래식을 사용하는 것이 편리
注意 3-如果用 ASTM 宏观晶粒尺寸编号表示，则使用下式更方便

은

대신

배율에서 관찰할 때 Apparent grain size에 더해주는 보정값.

在

的情况下观察时，添加到表观晶粒尺寸的校正值。

10.13 Ferritic steel에서 Austenite grain size의 측정에도 비교법 적용이 가능. 즉 McQuaid-Ehn test (Annex A3, A3.2참고), 또는 다른 방법으로 Austenite grains이 보이는 작업 후(Annex A3, A3.3참조)에는 적용할 수 있다.

배 상에서 McQuaid-Ehn test (see Annex A3) 후에는 Plate IV를 사용하고 다른 방법으로 Austenite grains이 보이면 (Annex A3참조) Plates I, II, 또는 IV를 사용
10.13 铁素体钢中也可以应用比较法来测量奥氏体晶粒尺寸。即 McQuaid-Ehn 测试（见附录 A3，A3.2 参考），或者在观察到奥氏体晶粒后采用其他方法（参见附录 A3，A3.3）。在 McQuaid-Ehn 测试后，可以使用 Plate IV，并且在观察到奥氏体晶粒后，可以使用 Plate I、II 或 IV（参见附录 A3）。

10.14 경화강의 파괴에서 나타나는 Grain size의 평가방법인 "Shepherd Fracture Grain Size Method"는 Standard fractures와의 시편비교를 포함한다. Arbitrarily numbered fracture grain size series는 Table 4의 ASTM grain sizes 와 잘 일치한다. 이는 Fracture grain sizes가 미세조직적으로 결정한 Austenitic grain sizes를 대체할 수 있음을 보여준다. 그러나 측정장비를 사용한 미세조직학적으로 분석한 크기를 기본적인 표준으로 정한다.
10.14 Shepherd 断裂晶粒尺寸评估方法在경화강的破坏中显示出来，包括与标准断口的试样比较。任意编号的断口晶粒尺寸系列与 ASTM 晶粒尺寸表 4 中的晶粒尺寸很好地匹配。这表明断口晶粒尺寸可以替代由细观组织确定的奥氏体晶粒尺寸。然而，使用测量设备进行细观组织分析的尺寸被确定为基本标准。

11. Planimetric (or Jeffries') Procedure

11.1 Planimetric procedure는 미세조직 위에 일정한 면적의 원이나 사각 (일반적으로 계산 편의 상

를 사용)을 사용한다. 최소 50 개 이상의 Grain이 상에 나타나도록 배율을 결정하고 Grain 수를 측정한다.
11.1 平面程序使用在组织切片上的特定面积的圆形或方形（通常使用

以方便计算）。确定放大倍率以确保至少出现 50 个颗粒，并测量颗粒数量。

경계선에 있는 Grain은 반으로 계산하며 Table 5 의 Jeffries' multiplier, f를 곱하면 단위

당 Grain의 수

가 된다. 최소한 서로 다른 상에서 3 회 반복 평균하며 실제,

는 아래식으로 계산
在边界上的 Grain 被划分为一半，将 Jeffries'乘数 f 乘以表 5 中的单位

，Grain 的数量将变为

。至少在不同的表面上重复 3 次平均，实际上，

可以通过以下公式计算。

는 Jeffries' multiplier (Table 5 참조),

는 구역 내 숫자이고

는 경계에 걸친 숫자

是 Jeffries'乘数（参见表 5），

是区域内的数字，

是跨越边界的数字

TABLE 3 Macroscopic Grain Size Relationships Computed for Uniform, Randomly Oriented, Equiaxed Grains

NOTE 1-Macroscopically determined grain size numbers

and

correspond, respectively, to microscopically determined grain size numbers (G) 00, 0, 0.5 and 1.0 .

Macro Grain

Size No.

Grains/Unit Area

Average Grain Area

Average Diameter

Mean Intercept

No./in.

in..

in.

0.0008

0.50

1290.3

2.00

35.9

1.41

32.00

1.2

0.031

3.13

0.0011

0.71

912.4

1.41

30.2

1.19

26.91

1.0

0.037

3.72

0.0016

1.00

645.2

1.00

25.4

1.00

22.63

0.89

0.044

4.42

0.0022

1.41

456.2

0.707

21.4

0.841

19.03

0.74

0.053

5.26

0.0031

2.00

322.6

0.500

18.0

0.707

16.00

0.63

0.063

6.25

M-2.5

0.0044

2.83

228.1

0.354

15.1

0.595

13.45

0.53

0.074

7.43

0.0062

4.00

161.3

0.250

12.7

0.500

11.31

0.44

0.088

8.84

0.0088

5.66

114.0

0.177

10.7

0.420

9.51

0.37

0.105

10.51

0.0124

8.00

80.64

0.125

8.98

0.354

8.00

0.31

0.125

12.50

0.0175

11.31

57.02

0.0884

7.55

0.297

6.73

0.26

0.149

14.87

0.0248

16.00

40.32

0.0625

6.35

0.250

5.66

0.22

0.177

17.68

0.0351

22.63

28.51

0.0442

5.34

0.210

4.76

0.18

0.210

21.02

0.0496

32.00

20.16

0.0312

4.49

0.177

4.00

0.15

0.250

25.00

M-6.5

0.0701

45.26

14.26

0.0221

3.78

0.149

3.36

0.13

0.297

29.73

M-7.0

0.099

64.00

10.08

0.0156

3.17

0.125

2.83

0.11

0.354

35.36

0.140

90.51

7.13

0.0110

2.67

0.105

2.38

0.093

0.420

42.05

0.198

128.0

5.04

7.812

2.25

88.4

2.00

78.7

0.500

50.00

0.281

181.0

3.56

5.524

1.89

74.3

1.68

66.2

0.595

59.46

0.397

256.0

2.52

3.906

1.59

62.5

1.41

55.7

0.707

70.71

0.561

362.1

1.78

2.762

1.33

52.6

1.19

46.8

0.841

84.09

0.794

512.0

1.26

1.953

1.12

44.2

1.00

39.4

1.00

100.0

1.122

724.1

0.891

1.381

0.994

37.2

0.841

33.1

1.19

118.9

1.587

1024.1

0.630

0.977

0.794

31.2

0.707

27.8

1.41

141.4

2.245

1448.2

0.0445

0.690

0.667

26.3

0.595

23.4

1.68

168.2

3.175

2048.1

0.315

0.488

0.561

22.1

0.500

19.7

2.00

200.0

3.908

2521.6

0.256

0.397

0.506

19.9

0.451

17.7

2.22

221.9

4.490

2896.5

0.223

0.345

0.472

18.6

0.420

16.6

2.38

237.8

6.349

4096.3

0.157

0.244

0.397

15.6

0.354

13.9

2.83

282.8

7.817

5043.1

0.128

0.198

0.358

14.1

0.319

12.5

3.14

313.8

8.979

5793.0

0.111

0.173

0.334

13.1

0.297

11.7

3.36

336.4

11.055

7132.1

0.091

0.140

0.301

11.8

0.268

10.5

3.73

373.2

12.699

8192.6

0.079

0.122

0.281

11.0

0.250

9.84

4.00

400.0

15.634

10086.3

0.064

0.099

0.253

9.96

0.225

8.87

4.44

443.8

11.2 정확한 Counting을 위하여 Check 한 Grain에 표기. Planimetric 방법의 정밀도는 세는 Grain의 숫자에 비례하나 100 개가 넘으면 너무 시간이 걸리는 지루한 작업을 하게 된다. (Section 19참조). 현실적으로 약 50개의 Grain이 적절하며 Planimetric 방법은 Intercept 방법에 비하여 비효율적(Section 12)
11.2 为了准确计数，在检查每粒谷物上标记。平面测量方法的精度与计数的谷物数量成正比，但如果超过 100 个，则会变得太耗时和乏味（参见第 19 节）。实际上，大约 50 个谷物是合适的，而平面测量方法相对于截面法是低效的（第 12 节）。

11.3 5.2에 기술하였듯이 편견 없이 규칙적으로 Field를 선정하여야 한다.
如 11.3 和 5.2 所述，应该无偏见地并有规律地选择 Field。

11.4 기본적인 정의에 의하면 조직학적으로 결정한 Grain size No. 1은 1.000 grains

을 가지며 따라서 15.500 grains

를 가진다. 표준 원을 사용하지 않는 경우

당 실제 Grain 숫자,

를 구하고 Table 4에서 근사값을 구한다. ASTM grain size number, G는 (Eq 1) Table 6의 Eq 1을 이용하여

(number of grains per

)로부터 계산한다.
11.4 根据基本定义，组织学上确定的晶粒尺寸编号 1 具有 1.000 个晶粒在

处，因此具有 15.500 个晶粒在

处。如果不使用标准圆，则每

的实际晶粒数

可通过表 4 中的近似值来确定。ASTM 晶粒尺寸编号 G 可通过使用表 6 中的 Eq 1（Eq 1）来计算，即（每

处的晶粒数

）。

12. General Intercept Procedures

12.1 Intercept 방법은 Planimetric 방법에 비하여 편리. 이 방법은 여러 측정기의 도움을 받기가 용이하다
12.1 拦截方法比平面法更方便。这种方法更容易得到多个测量仪器的帮助。

12.2 Intercept 방법은 균일한 등축정에 적용하나 이방성 재료에서는 각 방향에 따른 적용도 가능하고 이들의 평균도 가능하다.
12.2 拦截方法适用于均匀各向同性材料，但也可以根据各个方向应用于各向异性材料，并且也可以对它们的平均值进行应用。

12.3 Planimetric방법에서는

은

1과 같이 관련식이 있으나 Intercept 방식에서는 ASTM grain size number, G와 Mean lineal intercept 사이에는 직접적인 수학적인 관련이 없다.
12.3 Planimetric 方法中，

与

1 有关的公式，但在 Intercept 方法中，ASTM 晶粒尺寸编号 G 与平均线性截距之间没有直接的数学关系。

Mean lineal intercept, l과 Average grain area,

사이의 관계식은 원에서는 정확하나 등축정에서는 정확하지 않다 (A2.2.2참조). 결론적으로 ASTM grain size number G 와 Mean lineal intercept의 관계는 ASTM No. 0 가 Mean intercept size가 100 배 상에서

가 되도록 정의된다. 따라서 다음 식으로 정리된다.
平均线性截距 l 和平均晶粒面积之间的关系在圆形上是准确的，但在等轴上不准确（参见 A2.2.2）。总的来说，ASTM 晶粒尺寸编号 G 与平均线性截距的关系是 ASTM 编号 0 时，平均截距尺寸为 100 倍时为 1。因此，可以总结为以下公式。

거시조직적으로

는

및

은

에서

또는 mm당 Intercepts 수이고 미세조직에서는 100X에서의

또는 mm당 Intercepts 수이다. 이를 이용하여 측정되는 Grain size 크기는 대략 Planimetric 방법에 의하여 결정되는 Grain size 단위의

이다. 즉 매우 좋은 정밀도를 같게 된다.
宏观组织中

是

中的

或每毫米截面数，微观组织中是 100X 下的

或每毫米截面数。由此测得的晶粒尺寸大约是由面积法确定的晶粒尺寸单位

。即非常好的精度。

Annex A1 및 Annex A2 참조

12.4 Mean intercept distance,

- 평면에서 측정한 값은 편향이 없는 평균 Intercept 거리. Grain boundary surface
12.4 平均截距距离，

- 平面上测量的值是无偏的平均截距距离。晶界表面

Grain Slze No.

Grains/Unit Area

Average Grain Area

J Average Diameter

Mean Intercept

No./in..

No.

0.25

3.88

0.2581

258064

0.5080

508.0

0.4525

452.5

2.21

0.50

7.75

0.1290

129032

0.3592

359.2

0.3200

320.0

3.12

0.5

0.71

10.96

0.0912

91239

0.3021

302.1

0.2691

269.1

3.72

1.0

1.00

15.50

0.0645

64516

0.2540

254.0

0.2263

226.3

4.42

1.5

1.41

21.92

0.0456

45620

0.2136

213.6

0.1903

190.3

5.26

2.0

2.00

31.00

0.0323

32258

0.1796

179.6

0.1600

160.0

6.25

2.5

2.83

43.84

0.0228

22810

0.1510

151.0

0.1345

134.5

7.43

3.0

4.00

62.00

0.0161

16129

0.1270

127.0

0.1131

113.1

8.84

3.5

5.66

87.68

0.0114

11405

0.1068

106.8

0.0951

95.1

10.51

4.0

8.00

124.00

0.00806

8065

0.0898

89.8

0.0800

80.0

12.50

4.5

11.31

175.36

0.00570

5703

0.0755

75.5

0.0673

67.3

14.87

5.0

16.00

248.00

0.00403

4032

0.0635

63.5

0.0566

56.6

17.68

5.5

22.63

350.73

0.00285

2851

0.0534

53.4

0.0476

47.6

21.02

6.0

32.00

496.00

0.00202

2016

0.0449

44.9

0.0400

40.0

25.00

6.5

45.25

701.45

0.00143

1426

0.0378

37.8

0.0336

33.6

29.73

7.0

64.00

992.00

0.00101

1008

0.0318

31.8

0.0283

28.3

35.36

7.5

90.51

1402.9

0.00071

713

0.0267

26.7

0.0238

23.8

42.04

8.0

128.00

1984.0

0.00050

504

0.0225

22.5

0.0200

20.0

50.00

8.5

181.02

2805.8

0.00036

356

0.0189

18.9

0.0168

16.8

59.46

9.0

256.00

3968.0

0.00025

252

0.0159

15.9

0.0141

14.1

70.71

9.5

362.04

5611.6

0.00018

178

0.0133

13.3

0.0119

11.9

84.09

10.0

512.00

7936.0

0.00013

126

0.0112

11.2

0.0100

10.0

100.0

10.5

724.08

11223.2

0.000089

89.1

0.0094

9.4

0.0084

8.4

118.9

11.0

1024.00

15872.0

0.000063

63.0

0.0079

7.9

0.0071

7.1

141.4

11.5

1448.15

22446.4

0.000045

44.6

0.0067

6.7

0.0060

5.9

168.2

12.0

2048.00

31744.1

0.000032

31.5

0.0056

5.6

0.0050

5.0

200.0

12.5

2896.31

44892.9

0.000022

22.3

0.0047

4.7

0.0042

4.2

237.8

13.0

4096.00

63488.1

0.000016

15.8

0.0040

4.0

0.0035

3.5

282.8

13.5

5792.62

89785.8

0.000011

11.1

0.0033

3.3

0.0030

3.0

336.4

14.0

8192.00

126976.3

0.000008

7.9

0.0028

2.8

0.0025

2.5

400.0

area 대 Volume 비는

로서

은 세 방향의 평균. 이 관계는 Grain의 모양과 무관.
区域与体积的比值为

，而

是三个方向的平均值。这种关系与颗粒的形状无关。

TABLE 4 Grain Size Relationships Computed for Uniform, Randomly Oriented, Equiaxed Grains

TABLE 5 Relationship Between Magnification Used and Jeffries' Multiplier, f, for an Area of

(a Circle of

Diameter) (

)

Magnification Used,	Jeffries' Multiplier, , to Obtain Grains
1	0.0002
10	0.02
25	0.125
50	0.5
	1.125
100	2.0
150	4.5
200	8.0
250	12.5
300	18.0
500	50.0
750	112.5
1000	200.0

At 75 diameters magnification, Jeffries' multiplier,

, becomes unity if the area used is

(a circle of 84.5 -mm diameter).

TABLE 6 Grain Size Equations Relating Measured Parameters to the Microscopically Determined ASTM

Grain Size, G

NOTE 1-Determine the ASTM Grain Size, G, using the following equations:

NOTE 2-The second and third equations are for single phase grain structures.

NOTE 3-To convert micrometres to millimetres, divide by 1000 .

NOTE 4-A calculated G value of -1 corresponds to ASTM G

Equation	Units
	in
	in
	in
	in mm

13. Heyn Lineal Intercept Procedure

13.1 최소 50 개 이상의 Grain과 만나는 길이를 가지는 하나 또는 그 이상의 직선을 미세조직에 그어 평균 Grain 크기를 예측한다. 직선의 길이와 배율을 조합하여 가능. 고 정밀을 위하여는 추가적인 Line에 대한 시험이 필요하며 정밀도는 만나는 Grain의 수의 함수이다. (Section 19 참조). 직선이 Grain내부에서 끝나고 Grain의 수가 적다면 정밀도가 낮게 된다. 이 경우에는 가능한 길이를 길게 하거나 배율을 줄인다.
13.1 通过绘制至少与 50 个谷物相遇的一条或多条直线在细胞组织中，预测平均谷物大小。结合直线的长度和比例来实现。为了获得高精度，需要对额外的线进行测试，精度取决于遇到的谷物数量的函数（参见第 19 节）。如果直线在谷物内部结束且谷物数量较少，则精度会降低。在这种情况下，可以增加可能的长度或减小比例。

13.2 3-5 회 정도 시편의 평균을 낼 수 있도록 영역을 선택하여 시험하나 충분하지 않은 경우 추가 시험 (Section 15에 계산 참조)
13.2 选择足以产生平均值的领域进行测试，进行 3-5 次测试，如果不够充分，则进行额外测试（参见第 15 节的计算参考）

13.3 Intercept는 하나의 Grain에 겹치는 Test line의 분절이다. Intersection은 입계에 의하여 Test line이 잘려지는 곳의 점이다. 두 가지 모두 셀 수 있으며 하나의 상인 경우 동일하다. Intercept를 세는 경우는 Test line의 끝이 Grain내에 있는 경우는 1/2로 계산하며 Intersections을 세는 경우 Test line의 끝점이 정확히 입계와 만나지 않으면 세지 않는다. Line이 입계와 만나는 점에서 끝나면 1/2로 처리. Tangential intersection인 경우는 1로 처리하며 3 개의 Grain이 만나는 점인 경우는 1.5로 처리. 불균일한 Grain의 경우는 하나의 Grain에서 두 번 만나는 경우가 발생하며 관입 Grain의 경우는 3번도 가능하다.
13.3 拦截是与一个谷粒重叠的测试线的分割。交点是由于测试线被切割的地方的点。这两种情况都可以计算，一个情况下是相同的。计算拦截时，如果测试线的末端在谷粒内，则计为 1/2；计算交点时，如果测试线的末端与边界不完全相遇，则不计算。线条在边界相遇的点结束时，计为 1/2。切线交点计为 1，三个谷粒相交的点计为 1.5。不规则谷粒的情况下，可能在一个谷粒中相交两次，而在关入谷粒的情况下，可能相交三次。

13.4 등축정 구조로부터 적절한 시작 효과는 4 개 이상의 방향을 가지는 Line들을 포함하는 Line array에서 Intercept를 측정하여 제거될 수 있다.
13.4 从对称结构中，适当的起始效果可以通过测量截距以消除包含 4 个或更多方向的线的线阵列。

Fig 5 의 4 개의 직선을 사용하며 모든 영역을 같은 수준으로 측정하는 이런 배치가 결정적이지는 않다. Common point로부터 방사하는 Line 배치는 부적절. Intercepts 수를 측정하고

을 결정.
图 5 使用 4 条直线，以相同水平测量所有区域的这种布局并不决定性。从共同点辐射的线布局是不合适的。测量截距并确定

。

13.5 확연히 등방성이 아닌 경우에는 시편의 주축에 평행한 Line을 분석함으로서 더 많은 정보를 얻는다. Longitudinal 및 Transverse 방향이 주로 사용되며 필요 시에는 Normal section도 사용. Fig 5의 100-mm lines을 5 번 사용하고 평행한 거리를 사용하여 5 개의 + 표시를 Image의 같은 점에 표시. 대안으로는 길이를 아는 등 간격의 Line을 가지는 투명 Test grid를 사용할 수 있다.
13.5 如果不明显是各向同性的情况，通过分析与样品的主轴平行的线可以获得更多信息。通常使用纵向和横向方向，必要时也使用法线截面。使用图 5 中的 100 毫米线 5 次，并使用平行距离在图像的同一点上标记 5 个+符号。作为替代，可以使用具有已知长度等间距线的透明测试网格。

14. Circular Intercept Procedures

14.1 Underwood, Hilliard, Abrams는 직선보다 원을 선호. Circular test arrays는 자동으로 등축정으로부터 시작하는 것에 대한 보정을 하며 끝부분의 모호한 Intersections을 방지. Circular intercept 방법은 Grain크기를 예측하는 일반적인 수동방법에 가장 적당.
14.1 Underwood, Hilliard, Abrams prefer circles to straight lines. Circular test arrays automatically correct for starting from the axis and prevent ambiguous intersections at the end. The circular intercept method is most suitable for predicting grain size compared to common manual methods.

14.2 Hilliard Single-Circle Procedure

14.2.1 Grain이 이방성인 경우 직선을 사용하는 경우 방향에 따른 오차가 유발되므로 원을 사용하는 것이 오차 발생 요인 감소에 유리.
14.2.1 如果 Grain 是各向异性的，则使用直线会导致方向误差，因此使用圆会减少误差产生因素。

14.2.2원호길이를 아는 어떤 원도 사용 가능. 일반적으로 100,200 , 또는

의 원호를 사용. Test circle 직경은 가장 큰 Grain보다는 커야 하며 만일 Test circle이 평균 Lineal intercept의 3배보다 작다면 Intercepts의 숫자나 Intersections의 분포가 Gaussian이 안될 수도 있다. 또한 작은 Test circles은 정밀도를 위하여 많은 반복시험을 하여야 하기 때문에 비 효율적.
14.2.2 知道弦长的任何圆都可以使用。通常使用 100、200 或

的弦长。测试圆直径应大于最大颗粒，如果测试圆直径小于平均线截距的 3 倍，则截距的数量或交点的分布可能不符合高斯分布。此外，小测试圆需要进行多次重复测试以提高精度，因此效率低下。

Mark를 시작점에 표시하는 것이 효과적이다. 원은 여러 영역에 적용하며 원하는 정밀도를 얻을 때까지 반복. 14.2.3 숫자가 많을수록 정밀도는 증가 (Section 19 참조). 정밀도는 측정 수의 표준편차에 기반하며 일반적으로 측정 숫자가 증가하면 표준편차는 감소. Hilliard 는 대략 한 원당 35 개 정도를 추천
将 Mark 标记在起点是有效的。在多个领域应用圆形，并重复直到达到所需的精度。14.2.3 数字越多，精度越高（参见第 19 节）。精度基于测量数的标准偏差，通常测量数字增加时，标准偏差会减少。Hilliard 建议每个圆大约 35 个左右。

14.3 Abrams Three-Circle procedure

14.3.1 경험 상 500 개 정도의 측정이면 적당한 정밀도를 확보. Abrams은 일반적인 강에 대한 평균 입도를 측정하는 전용방법을 개발. Chi-Square 검정을 통하여 Intercept 방법은 일반적인 결과와 동일하다고 평가. 14.3.2 Test pattern은 Fig 5 와 같이 3 개의 간격이 같은 동심원으로 총 원호는

구성. 이를 적어도 5 번 무작위로 선정된 상에 적용하여 Intersection 수를 측정하여 Mean lineal intercept, Standard deviation,

Confidence limit, Percent relative accuracy를 결정. 대략 Relative accuracy

이내면 양호.
14.3.1 根据经验，大约 500 个测量可以确保适当的精度。Abrams 开发了一种专门用于测量普通钢的平均晶粒尺寸的方法。通过卡方检验，截距法被评估为与一般结果相同。14.3.2 测试图案如图 5 所示，由 3 个等间距同心圆组成，总弧长为

。至少随机选择 5 次应用于此，并测量交点数以确定平均线性截距、标准偏差、

置信限、百分比相对准确度。大约相对准确度在

以内则良好。

만일 Relative accuracy가 미흡한 경우는 추가 시험을 통하여 원하는 정확도를 얻을 때까지 반복하며 이 과정은 다음과 같다.
如果相对精度不够，就通过额外的测试重复进行，直到达到所需的准确度，这个过程如下。

14.3.2.1 세 개의 Circle test grid에 40 100 Intercepts 또는 Intersection이 되도록 배율을 정하고 실험. 최종 약 400 500 개의 숫자가 목표이므로 한번에 약 100 개 정도가 이상적. 그러나 한번에 숫자가 40 에서 100으로 증가하면 실수가 잦게 된다. Grain structure 가 상마다 다르기 때문에 적어도 5 개의 멀리 떨어진 상을 선택한다. 10 개의 상에 각 40 50 개씩 세는 것이 편리할 수도 있다.
14.3.2.1 在三个圆形测试网格上设置 40 到 100 个截距或交点，并进行实验。最终目标是大约 400 到 500 个数字，因此一次大约 100 个是理想的。然而，一次数字从 40 增加到 100 会导致错误频繁发生。由于晶粒结构各不相同，因此至少选择 5 个远离的晶粒。也许在 10 个晶粒上每个计数 40 到 50 个会更方便。

대부분의 경우 400 500 Intercepts 또는 Intersections 을 5 10 Fields 에서 세는 것이

Relative accuracy
在大多数情况下，在 5 到 10 个字段中计算 400 500 个截距或交点是

相对精确

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이내에 유리.

Non: 1-If reproduced to make straight lines marked length:

FIG. 5 Intercept Counting 용 Test Pattern

Fig. 6은 배율에 따른 Average intercept count와 미세조직학적으로 결정한 ASTM grain size number의 관계 14.3.2.2 무작위로 상을 선택하고 Test pattern을 적용. 투명한 Pattern을 직접 Ground glass에 적용하거나 영구보관을 위해서는 Photomicrograph에 적용. 접안렌즈에 적절한 크기의 눈금을 사용하여 직접 세는 것은 때로는 어려우며 실수를 유발한다. 수동 Counter를 이용하여 숫자를 세는 것이 유리. 절대 기억력으로 세지 않는 것이 중요하다. 자동계수기를 사용할 경우 3 개의 Grain이 만나는 점에서의 교점은 실제 1.5 보다 2로서 계산해도 오차가 적어서 무방.
图 6 显示了平均截距计数与通过显微组织学确定的 ASTM 晶粒尺寸编号之间的关系，14.3.2.2 随机选择样品并应用测试图案。直接将透明图案应用于磨砂玻璃，或者为了永久保存，应用于光学显微照片。使用适当尺寸的刻度直接进行计数有时很困难并会导致错误。使用手动计数器进行数字计数是更好的选择。重要的是不要依赖绝对记忆。如果使用自动计数器，在三个晶粒相遇的点处的交点实际上可以计算为 2 而不是 1.5，这样计算误差较小，也是可以接受的。

14.3.3

계산

및

는 Intercepts 또는 Intersections의 수, L은 총 Test line의 길이(500 mm), M은 배율

和

是 Intercepts 或 Intersections 的数量，L 是总的测试线长度（500 毫米），M 是放大倍数

14.3.4 Mean lineal intercept 값,

의 평균값은 Table 6의 식을 이용하여 ASTM 입도를 조직학적으로 결정하는데 사용.

的平均值是使用表 6 的公式来组织学地确定 ASTM 粒度的。

FIG. 6 Average Intercept Counts on

Test Pattern

TABLE 795 % Confidence Internal Multipliers, t

No. of Fields,		No. of Fields,
5	2.776	13	2.179
6	2.571	14	2.160
7	2.447	15	2.145
8	2.365	16	2.131
9	2.306	17	2.120
10	2.262	18	2.110
11	2.228	19	2.101
12	2.201	20	2.093

통계적 분석

15.1 평균 입도의 정확한 측정은 불가능하다. 따라서 정밀도에 대한 고려가 필수적이다. 일반적인 공학적인 상식에 따라 본 장에서는 실질적인 오차를 나타내는 일반적인 신뢰성은 95% 불확도.
15.1 平均入度的准确测量是不可能的。因此，考虑精度是必不可少的。根据一般工程常识，在本章中表示实际误差的一般可靠性为 95%的不确定度。

15.1.1 Grain의 크기는 상마다 다르고 이 차이가 불확도의 주 요인이다. 원하는 정밀도를 얻기 위한 최소한의 노력은 정밀도가 본래의 분산에 따르므로 개별 측정이 필수.
15.1.1 粒子的大小各不相同，这种差异是不确定性的主要因素。为了获得所需的精度，最少的努力是必要的，因为精度取决于原始方差，个别测量是必不可少的。

기기의 사용에 따른 높은 국부적인 정밀도는 많은 부분의 상을 측정하기 전에는 전체적인 정밀도의 향상에는 큰 의미가 없으나 Counting시의 오차는 배제할 수 있다.
设备的使用所带来的高局部精度在测量许多部分之前对整体精度的提高并没有太大意义，但在计数时可以排除误差。

15.2 원하는 수량의 상을 측정한 후 각 상의 값으로부터 평균

또는

을 계산
15.2 测量所需数量的项目后，从每个项目的值计算平均

或

。

는 개별 Data,

는 평균,

은 측정횟수

是个别数据，

是平均值，

是测量次数

15.3 표준편차 계산

는 표준편차
15.3 标准偏差计算

是标准偏差

15.4 각 측정에 따른

Confidence interval,

는 Table 7에서와 같이

의 함수로서 곱셈상수.

是乘法常数作为

函数，如表 7 所示。

값을 평균값으로 나누어 Relative accuracy, % RA를 계산.

将被平均值除以，以计算相对准确度，% RA。

15.6 만일 %RA 값이 너무 높으면 추가로 상을 측정하여 15.1-15.5 과정을 통해 계산.
如果%RA 值太高，则需要额外测量以通过 15.1-15.5 过程进行计算。

이내면 적정하다고 평가

内被评价为适当

15.7 Table 4 및 Table 6를 이용하여 평균

또는

를 ASTM grain size number, G로 변환
使用表 4 和表 6，将平均

或

转换为 ASTM 晶粒尺寸编号 G

16. Non-equiaxed Grain Shapes 시편

16.1 시편이 등축정이 아닌 경우는 4각봉, 판재 등에서는 봉재에서는 Radial longitudinal 및 Transverse sections www.randb.co.kr, webmaster@randb.co.kr
16.1 如果诗篇不是轴对称的情况下，在四角柱、板材等材料中，从柱体到径向纵截面和横截面 www.randb.co.kr, webmaster@randb.co.kr

에서 수행. 등축정과 차이가 크지 않다면 (16.2.2 참조) Longitudinal specimen 과 Circular test grid를 이용하여 적절한 Grain size의 예상이 가능. 만일 Directed test lines을 이용하는 경우는 2축 에서의 측정으로도 가능 16.2 Planimetric 방법
使用纵向试样和圆形测试网格进行测量。如果与等轴晶粒大小差异不大（参见 16.2.2），则可以通过使用纵向试样和圆形测试网格来预测适当的晶粒尺寸。如果使用定向测试线，则可以通过在 2 轴上进行测量来实现。16.2 平面测量方法

16.2.1 Grain 모양이 등축정이 아니고 연신된 상태라면 각 축에서

에서

당 Grain 수를 측정하고 평균값

and

계산하고 평균값,

를 계산

16.2.1 如果谷物的形状不是轴对称的，而是延伸状态，则在每个轴上测量

到

之间的谷物数量，并计算平均值

和

，然后计算平均值

。

16.2.2 Grain 크기차이가 크지 않은 경우(3:1 Aspect ratio)에는

로 부터 Grain크기 예상 가능.
16.2.2 粮食 크기差异不大的情况下（3:1 纵横比），可以从

预测粮食大小。

16.2.3

로부터

값을 계산하고 각 상의 결과를 통계적 처리 (15.1-15.5)
16.2.3 从

计算

值，并对每个结果进行统计处理（15.1-15.5）

16.3 Intercept Method

16.3.1 Non-equiaxed grain structures를 평가할 경우에는, Fig 7에서와 같이 3 방향의 주 평면에서 Circular grids 또는 Randomly placed test lines을 이용하거나, 2또는 3방향의 주 Plane을 이용하여 3 6개의 주 방향에서 Directed test lines을 이용하여 측정을 한다.
16.3.1 在评估非等轴晶粒结构时，可以使用图 7 中所示的 3 个主平面上的圆形网格或随机放置的测试线，或者使用 2 或 3 个主平面，在 3 个主方向上使用定向测试线进行测量。

Grain의 크기차이가 크지 않은 경우 (

aspect ratio)에는 Longitudinal plane에서 Circular test grid를 이용하여 Grain 크기의 예상이 가능.
如果 Grain 的大小差异不大（

纵横比），则可以通过使用圆形测试网格在纵向平面上预测 Grain 大小。

16.3.2 Grain size는 단위길이 당 평균 Grain boundary intersections,

또는 평균 Grains intercepted,

을 이용하여 계산. 두 방법 모두 단상의 Grain 구조의 경우에는 같은 결과.

또는

은 Fig. 7 에서와 같은 방법으로 결정
16.3.2 颗粒尺寸通过单位长度的平均晶界交叉点，

或平均截取晶粒数，

进行计算。这两种方法在单相晶体结构的情况下会得到相同的结果。

或

可以通过图 7 中的方法确定。

16.3.3 3면에서 무작위로 결정된

또는

을 결정하고 평균값을 계산
16.3.3 从 3 个方面随机确定

或

并计算平均值

c, All six directed test dine orientations

NOTE 1-Measurements of rectangular bar, plate, strip or sheet type specimens with non-equiaxed grain structures.

FIG. 7 Schematic Showing the Six Possible Directed Test Line Orientations for Grain Size Measurement

또는

값으로부터 선택적으로

을 계산

16.3.4 Directed test lines을 사용하는 경우는 단지 2 개의 주 평면에서의 측정으로 가능.
16.3.4 使用定向测试线的情况仅限于在两个主平面上的测量。

또는Anisotropy index,

, 은 아래 식으로 계산
或各向异性指数，

，可通过以下公式计算

16.3.5.1 Three-dimensional mean grain size 및 Shape은 3개의 주 평면에서의 Directed mean lineal intercept 값으로 정의되며 아래와 같이 표시
16.3.5.1 三维平均晶粒尺寸和形状是通过三个主平面上的定向平均线性截距值来定义的，并如下所示。

16.3.5.2 또 다른 방법은 3개 중 가장 작은 값으로 나누어 비로서 표준화 하는 방법.
另一种方法是将其除以三个值中的最小值，以标准化。

16.3.6 세 주 방향에서 평균값

은 Directed

또는

값 (Eq 22)을 평균하여 구하며

를 식 23과 같이 계산
16.3.6 从三个方向平均值

是通过求取定向

或

值（方程式 22）的平均值来计算，

如方程式 23 所示计算。

과 같 이 를 아 래 식 으 로 계 산

여기서. 는 곱셈을 의미.
这里。代表乘法。

16.3.7 평균입도는 Table 4 또는 Table 6 의 식을 사용하여

의 전체 평균으로 결정. Non-equiaxed 구조에서의 입도측정에 대한 정보는 ASTM 1382. Annex A1 참조
16.3.7 平均晶粒尺寸可通过使用表 4 或表 6 中的公式来确定

的整体平均值。有关非等轴结构中晶粒尺寸测量的信息，请参阅 ASTM 1382 的附录 A1。

16.4 15.1-15.5의 과정에 따라 각 Data의 총계적 처리는 필수.
16.4 根据 15.1-15.5 的过程，对每个数据的总体处理是必要的。

두 개 이상의 상이나 구성요소를 가지는 시편
具有两个或两个以上不同元素或组成部分的诗篇

17.1 특별한 규정이 없는 한 입도를 측정할 때 Second phase의 양이 적은 경우에는 무시하고 바탕의 입도를 측정.
17.1 在没有特殊规定的情况下，当测量入射量时，如果第二阶段的量很少，则忽略并测量基底的入射量。

17.2 각 상의 구별과 분율은 ASTME 562에 따라 측정하여 보고.
17.2 每个样品的区分和含量应根据 ASTME 562 进行测量和报告。

17.3 Comparison Method-Second phase가 적고 독립적으로 분포되어 있거나 계면에 존재할 때 비교방법은 가장 유용한 방법.
17.3 比较方法-第二阶段在分布较少且独立或存在于界面时，比较方法是最有用的方法。

17.4 Planimetric Method—입계가 확실하고 Second phase (constituent) particles이 주로 Gran 사이에 분포한다면 이 방법을 적용할 수 있다. ASTM E 562에 따라 Second phase의 분율을 계산. 언제나 가장 적은 양의 Phase를 결정하고 그 차이를 바탕 Phase로 결정. 다응 11 장의 과정으로 측정. 측정영역은 Matrix phase grains에 의하여 Cover되도록 축소. 유효평균입도는 단위 면적당 Grain의 수로부터 결정. 15장에 따라 각 Field에서 Matrix phase의 단위면적 당 Grain수

를 통계처리 하여 총 평균

로부터 유효 Grain을 Table 4 또는 Table 6의 적절한 식을 이용하여 결정
17.4 平面法-如果界面清晰，第二相（成分）颗粒主要分布在 Gran 之间，则可以应用这种方法。根据 ASTM E 562 计算第二相的分数。始终确定最少量的相并基于该差异确定相。通过第 11 章的过程进行测量。测量区域应缩小以覆盖由基体相颗粒形成的区域。有效平均粒径由单位面积内的颗粒数确定。根据第 15 章，通过统计处理每个 Field 中基体相的单位面积内的颗粒数

，从总平均

中确定有效颗粒，使用 Table 4 或 Table 6 中的适当公式确定。

17.5 Intercept Method-17.4와 같은 제약조건을 따르며 17.4와 같이 바탕 상의 양을 결정. Test grid는 Fig. 5 의 하나 또는 그 이상의 원을 이용. 이 방법에서는 Test line의 의하여 걸리는 Matrix grain의 수,

를 측정하고 Mean intercept length를 결정.
17.5 拦截方法-遵循与 17.4 相同的约束条件，并像 17.4 一样确定基底上的数量。测试网格使用图 5 中的一个或多个圆。该方法通过测试线截取的矩阵颗粒数量，

进行测量并确定平均拦截长度。

여기서 기지상의 양,

는

(Test line length)과

(배율)의 함수. Table 4 또는 Table 6의 식을 사용하여

grains의 입도를 결정. 실제적으로 a phase의 부피비 및 각 Field에서 Test line과 만나는 a grains의 수를 수동적으로 결정하는 것이 편리하다. 이런 방법으로 각 Field에서 a phase의 Mean lineal intercept length를 결정할 수 있고 15장에서 거론한 방법에 따라 통계처리가 가능. 만일

및

가 같은 Field에서 동시에 측정된 것이 아니라면

및

Data에 통계적 처리가 필수.
这里的基数是

的函数，取决于

（测试线长度）和

（放大倍数）。使用表 4 或表 6 的公式确定

颗粒的粒径。实际上，手动确定每个领域中 a 相的体积比和与测试线相交的 a 颗粒数量是方便的。通过这种方法，可以确定每个领域中 a 相的平均线性截距长度，并根据第 15 章提到的方法进行统计处理。如果

和

不是在同一领域同时测量的，则对

和

数据进行统计处理是必要的。

를 각각의 Intercept lengths를 평행한 직선을 그어 측정하여 결정할 수도 있다. Test lines의 끝에 부분적으로 만나는 Grain은 측정하지 않는다. 각 개별 Intercept는 평균을 내어

값을 구한다. Individual intercepts는 Histogram으로 표시하는데 이는 본 규격에서 다루지 않는다.

可以通过绘制与每个截距长度平行的直线来测量并确定。不要测量部分与测试线相交的颗粒。每个单独的截距取平均值以获得

。将单独的截距显示为直方图，这在本规范中不涉及。

18. Report

18.1 보고서는 시편에 대한 모든 정보, Composition, Specification designation, Trade name, Customer, Data requester, Date of test, Heat treatment, Processing history, Specimen location & orientation, Etchant & etch method, Grain size analysis method 등을 포함.

18.2 측정 상의 수 및 Magnification, field area를 포함. 측정한 Grains, Intercepts, Intersections 수도 포함하고 2상 구조의 경우는 바탕상의 면적비를 포함.
18.2 包括测量中的数量和放大倍数，视野面积。还包括测量的颗粒、截距、交点数量以及在二相结构的情况下包括基底面积比。

18.3 미세조직 사진은 모집단을 대별하게 선택.
18.3 微观组织照片是对总体进行差异选择。

18.4 평균값, 표준편차, 95 % Confidence interval, Percent relative accuracy, ASTM grain size number 포함

18.4.1 비교법에서는 ASTM grain size number만을 표시.

18.5 Non-equiaxed grain 조직에서는 분석방법, Planes examined, Directions evaluated (if applicable), 예상 Grain size, 총 평균, ASTM grain size number를 포함

18.6 Two-phase structure의 경우는 분석방법, Matrix phase (if determined)의 비, Matrix의 Grain size, Standard deviation,

Confidence interval, Percent relative accuracy, ASTM grain size number 포함.

18.7 만일 Lot당 시편의 평균 Grain 크기로 표시한다면 단순히 ASTM grain size numbers를 평균하지 않고 대신 시편 당

또는

같이 실제 측정의 수학적인 평균을 구하고 이로부터 Lot의 ASTM grain size를 구한다.

값은 통계분석을 하여 분산을 측정.
18.7 如果以每个试样的平均晶粒尺寸来表示，则不仅仅是简单地平均 ASTM 晶粒尺寸编号，而是计算每个试样的实际测量数学平均值，然后从中得出 Lot 的 ASTM 晶粒尺寸。这个数值通过统计分析来测量方差。

정밀도 및 오차

19.1 Grain size 측정의 오차는 선택되는 선택한 시편과 측정면의 상태에 따라 결정. 만일 Grain 크기가 생산품에 따라 계속 변한다면 이 변화에 따라 시편을 선택.
19.1 颗粒尺寸测量的误差取决于所选择的试样和测量面的状态。如果颗粒大小随产品而持续变化，则根据这种变化选择试样。

19.2 정밀도는 시편의 수 및 선택하는 Field의 수가 증가함에 따라 증가.
19.2 精度随着样本数量和选择的字段数量的增加而增加。

19.3 부적절한 시편준비는 오차를 유발하며 미세조직이 확실히 보이고 입계면이 선명하여야 한다. 불확실한 입계가 증가할수록 오차는 커지고 정밀도, 재현성 등은 떨어진다.
19.3 不恰当的试片准备会导致错误，细胞组织应清晰可见，边界清晰。不确定的边界增加会导致错误增加，精度和重现性等会降低。

19.4 부적절한 배율선정은 오차를 유발
19.4 不当的缩放选择会引起误差

19.5 Grain size가 방향성을 가지고 불균일 하다면 방향에 따른 오차가 발생한다. 따라서 변형된 Grain의 측정은 방향에 따라 측정하며 16장에 따른다.
19.5 如果晶粒尺寸具有方向性且不均匀，则会产生方向相关的误差。因此，测量变形晶粒是根据方向进行测量，并依赖于 16 张。

19.6 균일한 Grain의 경우는 본 규격의 방법으로 측정하나 Bimodal (또는 더 복잡한 경우) size distributions을 가지는 조직에서는 하나의 평균 크기의 Grain크기를 측정하는 방법을 사용하면 안 된다. 이 경우에는 ASTME 1181 및 ASTM E 112를 참조. 작은 Grain 바탕에 매우 큰 Grain이 있는 경우에는 ASTM E 930 사용.
19.6 在具有均匀颗粒的情况下，应使用本规范的方法进行测量，但在具有双峰（或更复杂的情况）尺寸分布的组织中，不应使用测量单一平均颗粒大小的方法。在这种情况下，请参考 ASTME 1181 和 ASTM E 112。对于存在非常大颗粒的小颗粒基础，应使用 ASTM E 930。

19.7 Comparison chart 방법을 사용하는 경우에는 좋은 정밀도를 위하여 선택하는 Chart는 Grain의 특성에 부합하여야 한다.
19.7 比较图表使用时，为了获得良好的精度，选择的图表应符合颗粒的特性。

19.8 Comparison chart 방법으로 Grain size를 정할 경우 한 개의 상에서는 약

units 정도의 오차 발생. 여러 개의 상일 경우에는 약 1.5 2.5 G units 오차.
19.8 比较图表的方法来确定晶粒尺寸时，在一个样品中大约会产生约

个单位的误差。如果有多个样品，则误差约为 1.5 到 2.5 个 G 单位。

19.9 파단면 Grain size 방법은 매우 취성이 큰 시편에만 적용하며 파단면이 평평한 경우에만 적용 가능.
19.9 颗粒尺寸 Grain size 方法仅适用于非常坚硬的试样，并且仅适用于断面平坦的情况。

Shepherd fracture grain size 방법의 경우 공구강의 Prior-austenite grain size는

units로 측정 가능
牧羊人断裂晶粒尺寸方法中，工具钢的先奥氏体晶粒尺寸可以测量为

单位

19.10 ASTM E 691에 따라 분석한 Round robin test program (Appendix X1)은 Plate 1을 이용한 Comparison chart

ratings과 Planimetric과 Intercept methods를 사용한 Grain size사이에 일관된 오차를 보여주고 있다. Chart ratings은 작은 G값에서 측정값보다 0.5 1 G unit 크게 나타난다.
使用 ratings、Planimetric 和 Intercept 方法显示了在颗粒尺寸之间一致的误差。图表评级在较小的 G 值时显示的测量值比 0.5 1 G 单位大。

19.11 Planimetric 및 Intercept 방법으로 측정한 Grain size는 큰 오차가 없다.
19.11 使用平面法和拦截法测量的晶粒尺寸没有很大误差。

19.12 입도크기의 정밀도는 측정되는 Grain의 수가 증가할수록 증가. 측정 수가 유사한 경우에는 Intercept
19.12 入口尺寸的精度随着测量的颗粒数量的增加而增加。在测量数量相似的情况下，拦截器

방법이 Planimetric 방법보다 유리. Intercept방법은 약 400 개의 Intercept 또는 Intersection로서

RA를 구할 수 있으나 Planimetric 방법은 최소 700 Grains을 측정하여야만

정도를 구할 수 있다.
方法比平面法更有利。拦截法可以通过约 400 个拦截或交点来计算 RA，而平面法则需要测量至少 700 个 Grains 才能得出大致结果。

19.13 Planimetric 방법은 Grain에 표식을 하면서 수를 세어야 하나 Intercept 방법은 그럴 필요가 없어 더 빠르고 편하게 적용할 수 있고 정밀도 또한 높아 선호.
19.13 平面法则是在颗粒上标记并计数，而拦截法则则无需这样做，更快速、更方便地应用，并且精度也更高，因此更受青睐。

19.14 한 측정자의 측정 오차는 약

units 이내이고 측정자간의 오차는

units 정도이다.
19.14 一个测量者的测量误差约为

units，而测量者之间的误差大约为

units。

20. Keywords

20.1 ALA grain size; anisotropy index; area fraction; ASTM grain size number; calibration; equiaxed grains; etchant; grain boundary; grains; grain size; intercept count; intercept length; intersection count; non-equiaxed grains; twin boundaries
20.1 ALA 晶粒尺寸；各向异性指数；面积分数；ASTM 晶粒尺寸编号；校准；等轴晶粒；蚀剂；晶界；晶粒；晶粒尺寸；截距计数；截距长度；交点计数；非等轴晶粒；孪晶界

ANNEXES (Mandatory Information)
A1. BASIS OF ASTM GRAIN SIZE NUMBERS
A1.1 Descriptions of Terms and Symbols

A1.1.1 일반적으로 Grain size라는 용어는 단위길이, 면적, 부피에서 측정하거나 예상되는 공칭 Size로 사용된다. 이 여러 방법 중 ASTM grain size number,

는 기본적으로 측정 방법에 무관한 값으로 정의된다.

를 결정하는 식은 A1.2 및 부록 A1.3의 Fig. 6, Table 2,Table 4 참조. 일반적인 관계는 Annex A2 참조. 이식들은 다음과 같다. A1.1.1.1 N = 배율 M에서 일정면적 A에서의 Grain 수 또는 일정길이 L에서 만나는 수로 몇 개의 상에서의 평균은

으로 표시.
A1.1.1 通常，晶粒尺寸这个术语用于测量或预期的名义尺寸，单位长度，面积和体积。在这些多种方法中，ASTM 晶粒尺寸编号

基本上被定义为与测量方法无关的值。确定

的公式见 A1.2 和附录 A1.3 的图 6，表 2，表 4。一般关系请参见附录 A2。这些关系如下。A1.1.1.1 N = 在倍率 M 下在固定面积 A 上的晶粒数或在固定长度 L 上相遇的数目，平均值在

处表示。

A1.1.1.2 배율을 보정한 후의

는 단위면적 당

배율에서 Grain 수이며

은

에서 단위길이당

만나는 Grain 수,

은

배율에서 단위길이 당

입계와 만나는 수.
A1.1.1.2 调整倍率后的

是单位面积的

倍率中的颗粒数，

是

中单位长度的

遇到的颗粒数，

是

倍率中单位长度的

遇到的数。

A1.1.1.3

는 단위길이

배율에서 평균 Lineal intercept length.
A1.1.1.3

在单位长度

倍率下的平均线截距长度。

A1.1.1.4

는

배율에서 평균 Grain 면적

. 평균 Grain diameter,

는

. Plate III 에서의 Grain size 값은

로 표시. Table 2는 각 배율에서 각 Chart에서 동등한 ASTM grain size number를 표시.
A1.1.1.4

在

倍率下的平均晶粒面积为

在

。平均晶粒直径，

为

。在 Plate III 中的晶粒尺寸值为

。表 2 显示了每个图表中每个倍率下相同的 ASTM 晶粒尺寸编号。

A1.1.1.5

는 불규칙한 Grain구조에서 크기를 평가하는 방법을 나타내는 첨자로 사용. 이 3 개의 첨자는 Rectangular bar, Plate, Sheet, Strip 시편의 주 방향을 표시하며 각각 Longitudinal (l), Transverse (t) Planar (p) surfaces를 의미. 이들은 상호 수직이며 각 Plane은 두 개의 주축을 가지며 서로 수직(Fig. 7참조)
A1.1.1.5

用于评估不规则晶粒结构中的尺寸的方法指示符。这 3 个指标表示矩形条，板，片，带试样的主要方向，分别表示纵向（l），横向（t）平面（p）表面。它们彼此垂直，每个平面有两个主轴，彼此垂直（参见图 7）。

측정대상 상의 수

1.1.1.7 다른 측정표시는 아래 식을 따른다.

1.1.1.7 其他测量标志遵循以下公式。

A1.2.1 Metric units,

배율에서 결정한 Grain size로서 단위는

은

배율에서 거시적으로 결정한 Grain size로서 G에 대하여

은 다음관계식을 가진다. 거시적으로 결정한 Grain sizes,

는

에서

로 다음 관계를 가진다.
A1.2.1 公制单位，

倍率确定的晶粒尺寸，单位为

是

倍率确定的宏观晶粒尺寸，对于 G，

，

满足以下关系式。宏观确定的晶粒尺寸，

在

和

之间具有以下关系。

는 로 서

미세조직학적으로 결정된

는

배율에서

로 아래와 같다
以组织学为基础确定的

在

倍率下为

如下

만일

이

대신 결정되었다면 EqA1.5 및 EqA1.6에서

대신

로 대체
如果

不是

，则在 EqA1.5 和 EqA1.6 中用

替换

。

A1.3 Planimetric 방법

A1.3.1 100X 배율에서

당 English units,

는 Grain size를 결정하고 1X 배율에서의 Grain size와

값과의 관계식은 아래와 같다.
A1.3.1 100X 倍率下

当英制单位，

是 Grain size를 决定和 1X 倍率下的 Grain size 和

值和的关系式是下面这样的。

만일

가

배율에서

당 Grain 수로 표시된다면 미세조직 상 결정되는 Grain size는 아름과 같은 식을 가진다.
如果

以

倍率显示为

粒，则微观组织中确定的晶粒尺寸遵循如下公式。

A2. 입도 측정에 관련된 식
A2. 与入口测量相关的公式

배율변경—배율

을 기본배율

또는

로 바꾸는 방법은 아래와 같다.

变焦比例更改-将变焦比例

更改为基本变焦比例

或

的方法如下。

A2.1.1 Planimetric Count

는 기본배율

에서 단위면적 당 Grain 수

在基本倍率

下，每单位面积的谷物数量

A2.1.2 Intercept Count

는 기본배율

에서 단위길이 Test line (

및

도 동일)에 걸리는 Grains 수 A2.1.3 Any Length:

在基本倍率

下，单位长度测试线（

和

也相同）上的颗粒数量 A2.1.3 任意长度:

는 기본배율

에서 평균 Lineal intercept

A2.1.4 ASTM Grain Size Number

는 기본배율

에서의 Apparent ASTM grain size number

A2.1.5 Grains per

from grains per in

는

에서의 Grain 수이고

는

at 100X에서의 Grain 수

是

在

的颗粒数量，

是

在 100X 的颗粒数量

A2.2 Table의 다른 측정값은 아래와 같이 계산
A2.2 表的其他测量值如下计算

A2.2.1 Area of Average Grain

는 평균 Grain 면적

A2.2.2 Intercept Width of a Circular Grain Section

Polygonal grains에서의 평균 Intercept distance의 변화는 이 이론적인 값에 대하여 변하며 이방성에 따라
多边形颗粒中的平均截距距离变化取决于其理论值，并随着各向异性的变化而变化

감소하며 면적이 증가함에 따라 증가한다. Eq A2.8로 계산한 폭은 A1.2.1 (

의 에

따른

로 표시하는 폭 보다

적다.
随着面积的增加而增加。根据 Eq A2.8 计算的宽度小于根据 A1.2.1（

의 에

）标记的宽度

。

A2.3 다른 유효한 크기는 다음 식으로 계산
A2.3 其他有效尺寸可通过以下公式计算

A2.3.1 Volumetric (spatial) diameter,

of similar size spheres in space

R&B ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

2차원평면에서 결정된

와 Spatial diameter,

사이에 유사한 관계가 형성.
在二维平面上确定了

和空间直径之间形成了类似的关系，

。

Tetrakaidecahedron shape model의 경우

A2.3.2 Single phase의 경우Grain boundary surface area per unit volume,

는

또는

의 함수

Two phase의 경우Phase boundary surface area per unit volume of the a phase

A3. AUSTENITE GRAIN SIZE, FERRITIC AND AUSTENITIC STEELS

A3.1 Scope

A3.1.1 때때로 입도크기 측정이전에 특별한 처리가 필요한 경우가 있으며 이는 다음 장에서 다룬다.
A3.1.1 有时在进行入口尺寸测量之前需要特殊处理，这将在下一节中讨论。

A3.2 Establishing Austenite Grain Size

A3.2.1 Ferritic Steels- 특별한 규정이 없다면 Austenite grain size는 다음 과정 중 하나를 사용
A3.2.1 铁素体钢- 如果没有特殊规定，奥氏体晶粒尺寸应使用以下过程之一

NOTE A3.1-Austenite grain size를 측정하는 방법은 매우 다양하며 영향을 주는 인자 또한 매우 다양하여 많은 인자를 고려하여 측정하여야 한다.
注意事项 A3.1-奥氏体晶粒尺寸的测量方法非常多样，影响因素也非常多样，需要考虑许多因素进行测量。

A3.2.1.1 Correlation Procedure (Carbon and Alloy Steels)—시험조건을 실제 열처리 조건과 일치.

이상 가열하지 말고

이상 시간을 초과하지 말며 냉각속도는 열처리 방법에 따른다. Table 1 참조 A3.2.1.2 Carburizing Procedure (Carbon and Alloy Steels; Carbon Generally Below

)- McQuaid-Ehn Test로 알려진 방법으로 시편을 침탄처리

for

또는0.050 in.

) Carburizing compound는 주어진 온도와 시간에 따라 과공석강을 만들 수 있는 능력을 가져야 한다. 노냉 속도는 Austenite grain boundary에 Cementite가 석출 할 수 있도록 충분히 서냉. Table 1에 따라 미세조직을 측정. 일반적으로 McQuaid-Ehn test는

Carbon 함량 이하인 강에서 Grain growth를 평가하는데 사용하는 반면 종종 침탄이 되지 않는 높은 Carbon 함량의 강에도 적용한다. 이런 강의 Grain size는

이하의 온도에서 열처리 할 때 McQuaid-Ehn test에서 얻어지는 Size보다 작을 수 있다.
A3.2.1.1 相关程序（碳素和合金钢）-测试条件应与实际热处理条件相符。不要超过

加热，不要超过

时间，冷却速度取决于热处理方法。参见表 1 A3.2.1.2 渗碳程序（碳素和合金钢；碳通常低于

）- 使用 McQuaid-Ehn 测试方法对试样进行渗碳处理

达到

或 0.050 英寸

）渗碳化合物应具有在给定温度和时间下制造过共晶钢的能力。快速冷却以便在奥氏体晶界上沉淀出渗碳体。根据表 1 测量细微组织。通常 McQuaid-Ehn 测试用于评估低于

碳含量的钢中的晶粒长大，同时也经常适用于高碳含量钢中，这些钢未被渗碳。这些钢的晶粒尺寸在

以下的温度下热处理时可能小于 McQuaid-Ehn 测试中获得的尺寸。

A3.2.1.3 Mock Carburizing Procedure-A3.2.1.2의 공정을 사용하나 침탄 분위기는 사용하지 않는 공정으로 열처리 후 급냉하여 Martensite를 생성시켜 조직분석. E407에 따라 포화 Aqueous picric acid with a wetting agent, 를 사용. McQuaid-Ehn test의 경우 일부 강종에서는 침탄층이 너무 얇기 때문에 Mock carburizing을 선호한다. Mock carburized 시편은 전면적을 측정하기 때문에 Banded grain size, duplex 또는 ALA grains (E 1181 참조) 의 경우 유리.
A3.2.1.3 模拟渗碳程序-A3.2.1.2 的工艺使用，但不使用渗碳气氛的工艺，经热处理后急冷以生成马氏体进行组织分析。根据 E407 使用饱和的含湿剂的硝酸苦味酸水溶液。在 McQuaid-Ehn 测试中，由于在某些钢种中渗碳层太薄，因此更倾向于使用模拟渗碳。模拟渗碳试样进行全面测量，因此对于带状晶粒尺寸、双相或 ALA 晶粒（参见 E 1181）的情况是有利的。

A3.2.1.4 Hypoeutectoid Steels (Carbon and Alloy Steels 0.25

Carbon) - 특별한 규정이 없으면 Carbon 함량

이하는

이상은

에서 최소 30 분 가열 후 수냉.

이상의 Carbon steel은 Ferrite를 가지는 Austenite grain boundary를 확실하게 하기 위한 냉각방법을 조절. 열처리 후 일차

분 정도 유지 후 유냉이나 수냉한 후 Table 1 에 따라 미세조직을 관찰.
A3.2.1.4 低共析钢（碳和合金钢 0.25% 碳）- 如果没有特殊规定，碳含量低于 0.25%的钢材在超过 30 分钟的加热后进行水冷。碳含量超过 0.25%的钢材需要调整冷却方法以确保奥氏体晶界具有铁素体。经过热处理后保持一段时间后进行油冷或水冷，然后根据表 1 观察细微组织。

A3.2.1.5 Oxidation Procedure (Carbon and Alloy Steels 0.25 to

Carbon)- 시편의 한 면을 약 400 -grit 또는

연마재로 polishing한 후 Furnace 내에 넣고

에서 1 시간 가열 후 수냉이나 Brine quenching. 냉각한 시편의 산화면을 Austenite grain size 가 나타나도록 Polishing 후 Table 1에 따라 미세조직을 관찰.
A3.2.1.5 氧化程序（碳钢和合金钢 0.25 至

碳）- 将试样的一面抛光至约 400 号砂纸或

研磨剂后，放入炉内，在

加热 1 小时后进行水冷或浸泡冷却。将冷却后的试样氧化表面抛光，以显示奥氏体晶粒尺寸，然后根据表 1 观察细观组织。

A3.2.1.6 Direct Hardening Steels (Carbon and Alloy Steels; Carbon Generally Below

) - 특별한 규정이 없다면 Carbon content

이하는

이상은

에서 충분한 시간 가열 후 충분히 경화되는 속도로 급냉. Martensitic structure가 나타나도록 polishing. 부식 전에

)에서 15 분 정도 Tempering은 Contrast에 유리. Table 1에 따라 미세조직을 관찰.
A3.2.1.6 直接淬火钢（碳素和合金钢；碳素通常低于

）- 如果没有特殊规定，碳含量低于

的钢在

中经过足够时间加热后以足够的速度淬火。为了形成马氏体结构进行抛光。在腐蚀之前在

) 中回火约 15 分钟对对比有利。根据表 1 观察细微组织。

A3.2.1.7 Hypereutectoid Steels (Carbon and Alloy Steels; Carbon Generally Over

)- 주로 1" 봉재나 1x 1" 4 각봉 을 사용.

에서 최소 30 분 가열 후 Cementite가 Austenite GB에 석출되는 온도 아래까지 천천히 노냉. Austenite GB에 석출된 Cementite가 Austenite의 크기를 나타내도록 부식 후 Table 1에 따라 미세조직을 관찰.
A3.2.1.7 高过共析钢（碳素和合金钢；碳素通常超过

）- 主要使用 1" 圆棒或 1x 1" 方棒。在

加热至最低 30 分钟后，将水泥体缓慢冷却至奥氏体 GB 中析出温度以下。析出在奥氏体 GB 中的水泥体应根据表 1 进行腐蚀后观察细观组织。

A3.2.2 Austenitic Steels- austenitic 재료의 실제 grain size는 사전 열처리에 의하여 이미 결정
A3.2.2 奥氏体钢- 奥氏体材料的实际晶粒尺寸已经通过预处理确定

A3.3 Revealing the Grain Size

A3.3.1 Ferritic Steels-Austenite grain size의 측정에 사용되는 방법 (Note A3.1참조)

A3.3.1.1 Cementite 이용방법-Carburizing의 과공석 영역 (McQuaid-Ehn test)이나 과공석 강에서는
A3.3.1.1 水泥化合物的使用方法-在过碳化的过共晶区域（麦奎德-恩试验）或者过共晶钢中。

Austenite영역에서 Cementite가 석출되도록 천천히 냉각시켜 석출된 Cementite로 Austenite의

를 구분하는 방법으로 부식액은 Nital, Picral, Alkaline sodium picrate를 사용 (Practice E 407 참조)
在奥氏体区域中，通过缓慢冷却使水泥质析出，用析出的水泥质来区分奥氏体的

的方法，腐蚀液使用 Nital、Picral、碱性苦味酸钠（参见实践 E 407）

A3.3.1.2 Ferrite 이용방법- 아공석강에서는

에 석출하는 Ferrite로 Austenite

를 구분. Ferrite는 Mediumcarbon steel

carbon)의 경우 천천히 냉각하는 경우 Former austenite grains를 볼 수 있으나 저 탄소강의
A3.3.1.2 铁素体的使用方法- 在奥氏体钢中，通过析出在

中的铁素体来区分奥氏体

。铁素体在中碳钢

碳）的情况下，缓慢冷却时可以看到原奥氏体晶粒，但在低碳钢中。

경우 (약

carbon이하)는 Ferrite의 크기가 너무 커져 Former austenite grain이 가리게 된다. 이 경우는 적정 Ferrite가 석출 한 후 급냉시켜 Ferrite가 더 이상 성장하지 못하게 하는 방법을 사용한다.

, 로 가열한 후

의 Furnace에서 약

분 유지 후 수냉을 하는 방법을 사용하면 Lowcarbon martensite grains에서 작은 Ferrite grain에 의하여 Austenite grain이 나타난다.
情况（约

碳以下）是 Ferrite 的尺寸过大，使原奥氏体晶粒变得模糊。在这种情况下，使用一种方法，在适当的 Ferrite 析出后迅速冷却，使 Ferrite 无法再生长。

，加热后在

炉中保持约

分钟后进行水冷，这种方法会导致在 Lowcarbon 马氏体晶粒中出现小的 Ferrite 晶粒，从而形成奥氏体晶粒。

A3.3.1.3 산화방법-GB가 쉽게 산화되는 특성을 이용한 것으로 시편을 Polishing 한 후 원하는 온도 및 시간 동안 산화 시킨 후 Scale만 제거하는 Polishing을 하는 방법으로 Austenite GB를 측정
A3.3.1.3 氧化方法-利用 GB 易氧化的特性，对试样进行抛光后，在所需的温度和时间内氧化，然后进行去除氧化层的抛光方法来测量奥氏体 GB。

A3.3.1.4 Fine Pearlite를 가지는 Martensite Grains이용방법 - 방법 선택에 결정이 애매한 경우의 공석강에 사용 하는 방법으로 일부는 완전히 경화시키고 일부는 경화되지 않게 열처리를 하면 중간에 완전히 경화되지는 않지만 거의 경화된 부분이 존재하며 이 영역은 Former austenite grains이 적은 양의 Fine pearlite에 둘러 쌓인 Martensite grains으로 나타나게 된다. 이 방법은 공석강 보다 낮거나 높은 탄소함량을 가진 강에서도 적용된다. A3.3.1.5 Martensite Grains의 부식 - Former austenite grain size는 완전히 Martesite로 경화된 강에서는 Martensite grains 사이의 Contrast를 강조하는 부식액을 사용하여 나타낼 수 있다. 부식 전

에서 약 15 분 정도 Tempering이 도움이 된다.

picric acid,

(sp gr 1.19),

ethyl alcohol을 사용. 또 다른 방법은 Prior-austenite grain boundaries를 선택적으로 나타내는 부식액을 사용하는 방법으로 다양한 부식액이 개발되었으며 ASTM E 407을 참조. 대표적으로는 포화 Aqueous picric acid에 Wetting agent로 Sodium tridecylbenzene sulfonate (dodecyl version 도 가능)이 첨가된 부식액을 사용
A3.3.1.4 具有细珍珠光体的马氏体晶粒的利用方法 - 在选择方法方面存在不确定性的情况下，可使用于奥氏体钢的方法，部分进行完全硬化，部分不进行硬化处理，使得在中间部分虽然不完全硬化，但几乎硬化，这一区域将呈现为少量细珍珠光体包围的马氏体晶粒。这种方法适用于具有低或高碳含量的钢。A3.3.1.5 马氏体晶粒的腐蚀 - 在完全马氏体硬化的钢中，可以使用突出马氏体晶粒之间对比的腐蚀液来显示原奥氏体晶粒尺寸。在腐蚀前约 15 分钟的回火有所帮助。使用 1% 硝酸酚、1% 氯化铁（比重 1.19）、95% 乙醇。另一种方法是使用选择性显示原奥氏体晶界的腐蚀液，已开发出各种腐蚀液，可参考 ASTM E 407。其中，典型的是在饱和水溶性硝酸酚中添加十三烷基苯磺酸钠（也可使用十二烷基版本）作为润湿剂的腐蚀液。

시편은 냉각한 상태 또는

이하에서 Tempering 한 시편을 사용. 이 방법의 성패는

의 함량

에 좌우된다. P가

로 이동하도록

에서 8시간 이상 Tempering이 도움이 되며 소량의

부식액에 몇 방울 정도)을 부식액에 첨가하는 것이 필요할 수 있다. 부식은 대략 5 분 정도이며 Sulfide를 공격한다.
诗篇使用经过淬火的试样，处于冷却状态或

以下。这种方法的成功与失败取决于

的含量

。在

中，使 P 移动到

至少需要 8 小时的回火，可能需要向腐蚀液中添加少量

（大约几滴）。腐蚀大约需要 5 分钟，会攻击硫化物。

가벼운 Re-polishing으로 불필요한 부분을 제거하는 것이 도움이 된다.
通过轻微的重新打磨来去除不必要的部分是有帮助的。

A3.3.2 Austenitic Steels-Austenitic materials에서 Grain size를 구분하기 위해서는 특별한 부식액을 사용.
A3.3.2 奥氏体钢-奥氏体材料中为了区分晶粒尺寸，需要使用特殊的腐蚀液。

Twinning은 Grain size의 측정에 혼란을 야기할 수 있으며 부식은 가능한 Twinning이 나타나지 않도록 수행.
Twinning 可能会导致晶粒尺寸的测量混乱，并且腐蚀应尽可能不出现孪晶。

A3.3.2.1 Stabilized Material-Anode와 같은 시편은 상온에서 전기적으로

concentrated nitric acid
A3.3.2.1 稳定材料-阳极等试样在室温下电化学上

浓硝酸

수용액에서 부식된다. 최소한의 Twinning을 위하여 Low voltage (

) 사용.
在溶液中腐蚀。为了最小化双晶，使用低电压（

）。

A3.3.2.2 Unstabilized Material-Grain boundary는 Carbide의 석출을 통하여 잘 나타나며 주로 예민화 온도 영역인

에서 석출시킨다. 적절한 Carbide-revealing etchant를 사용
A3.3.2.2 未稳定材料-晶界通常通过碳化物析出很好地显示出来，主要在敏感化温度区域

中析出。使用适当的碳化物显微蚀剂。

A3.4 Reporting the Grain Size

A3.4.1 Ferritic Steels-Duplex 또는 Mixed grain-sized structure (E 1181 참조)를 측정하는 경우는 두 개의 Grain size를 기록
A3.4.1 铁素体钢-双相或混合晶粒尺寸结构（参见 E 1181）的测量情况下，记录两个晶粒尺寸

표준 Carburizing (McQuaid-Ehn test) procedure이외의 열처리 공정인 경우 아래 사항을 포함한 전 공정을 기록 A3.4.1.1 Grain size를 형성한 온도
记录除标准渗碳（麦奎德-恩测试）程序之外的热处理工艺的整个过程，包括以下内容 A3.4.1.1 形成晶粒尺寸的温度

A3.4.1.2 Grain size를 형성한 온도에서의 시간
A3.4.1.2 在形成晶粒尺寸的温度下的时间

A3.4.1.3 Grain size를 나타내는 방법

A3.4.1.4 Grain size

A3.4.2 Austenitic Steels-Austenitic grains의 크기를 결정할 때, Grain내의 Twin boundaries 는 측정하지 않음
A3.4.2 奥氏体钢-确定奥氏体晶粒的大小时，不测量晶内的孪晶界。

A4. FRACTURE GRAIN SIZE METHOD

A4.1 Fracture grain size방법은 Arpi (9) 및 Shepherd (2)가 비교법으로 개발. 침탄재료의 경우 Prior-austenite grain size를 이 방법으로 측정하나 Low carbon 재료에는 적용하지 않는다.
A4.1 断裂晶粒尺寸方法是由 Arpi（9）和 Shepherd（2）通过比较法开发。对于沉积料，使用这种方法测量优先奥氏体晶粒尺寸，但不适用于低碳材料。

A4.2 10개의 Fracture 시편을 ASTM grain size numbers에 대응하는 1 10까지 번호를 부여하고 측정하려는 시편을 가공방향에 수직하게 깨뜨린 후 Shepherd series 10개의 파단시편과 비교하여 가장 유사한 시편의 번호를 선택하며

번호도 사용. 파단면이 두 종류의 파단형태로 구성되면 두 개의 번호 사용이 가능. A4.3 시편의 파단은 다양한 방법이 가능하며 Notch를 내거나 냉각을 하면 Flat 파단에 유리하며 더 자세한 내용은 Vander Voort (10) 참조.
A4.2 将 10 个断裂试样分别编号为 1 到 10，对试样进行垂直于加工方向的断裂后，选择与 Shepherd 系列的 10 个断裂试样最相似的试样编号，并使用编号

。如果断裂面由两种类型的断裂形态组成，则可以使用两个编号。A4.3 断裂试样可以通过多种方法进行，切割缺口或冷却有利于平面断裂，更详细内容请参考 Vander Voort（10）。

A4.4 비록 많은 양의 잔류 Austenite가 결과를 무효로 하지는 않지만 측정시편의 조직은 거의 Martensitic이어야 한다. 잔류 Carbide 역시 어느 정도 허용. 그러나 Diffusion controlled transformation products인 Bainite, Pearlite, Ferrite 등이 수 % 이상 존재하는 경우에는 파단 형태에 영향을 주어 결과에 오차를 유발. 과도한 Tempering 역시 오차를 유도. 급냉한 그 자체나 약간 Tempering 한 경우에 가정 정확한 결과를 얻을 수 있다.
A4.4 尽管有大量残留奥氏体不会使结果无效，但测量试样的组织几乎应为马氏体。残留碳化物也是可以接受的。然而，如果扩散控制的转变产物贝氏体、珠光体、铁素体等存在百分之几以上，则会影响断裂形式，导致结果出现误差。过度回火也会导致误差。通过急冷本身或轻微回火的情况下可以获得假设准确的结果。

많은 연구결과 완전히 경화한 공구강의 경우 잘 일치

许多研究结果表明，完全硬化的工具钢的匹配效果很好

대부분 공구강의 경우 Fracture grain size rating은 미세조직학적으로 결정한 Prior-austenite grain size number,

와

unit 이내의 차이를 보인다.
大多数工具钢的断裂晶粒尺寸等级是根据微观组织学确定的先马氏体晶粒尺寸编号，

和

单位之间存在差异。

A4.6 Fracture grain size 방법은 10보다 작은 Grain size에는 눈으로 구별이 어려워 적용할 수 없다. 1 보다 큰 grain size 역시 이 방법으로 결정하기 어렵다.
A4.6 断裂晶粒尺寸方法对于小于 10 的晶粒尺寸难以用肉眼区分，因此无法应用。大于 1 的晶粒尺寸也难以用这种方法确定。

A5. REQUIREMENTS FOR WROUGHT COPPER AND COPPER ALLOYS

A5.1 Committee B05의 Copper 및 Copper Alloys를 위한 방법은 다음과 같다.
A5.1 委员会 B05 针对铜及铜合金的方法如下。

A5.1.1 E 3에 따라 시편 준비

A5.1.2 비교법을 이용한 시편은 Contrast etching 후 Plate III와 비교하거나 Flat etching 후 Plate II와 비교 A5.1.3 Grain size는 평균 Grain diameter, mm로서 표시하며 이 의미는 검사 면에서의 Grain의 평균직경을 의미 A5.1.4 소성가공금속의 경우 Mixed grain sizes (E 1181참조)를 적용하며 면적비로 표시한다. 예로

of 0.015

; and

또는 범우가 존재한다면

of 0.010 to

; and

of 0.090 to

A5.1.5 특정한계를 가지는 grain size의 결정을 위하여서는 예측값은 아래와 같이 반올림한다.
A5.1.2 使用对比法的试样可与蚀刻后的第三版进行比较，或与平坦蚀刻后的第二版进行比较。A5.1.3 颗粒尺寸以平均颗粒直径（毫米）表示，这意味着在检验表面的颗粒的平均直径。A5.1.4 对于加工金属的情况，应用混合颗粒尺寸（参见 E 1181），以面积比表示。例如，0.015 的

；和

的

，或者如果存在范围，则为 0.010 至

的

；和 0.090 至

的

。A5.1.5 为了确定具有特定限制的颗粒尺寸，预测值应四舍五入如下。

Grain Size Calculated or Observed Value to Which Grain Size Should be Rounded

Up to

, incl to the nearest multiple of

Over

to the nearest

A6. APPLICATION TO SPECIAL SITUATIONS

A6.1 무수히 많은 다양한 방법이 제시되었으며 조건에 맞는 방법의 적용이 중요하나 Data의 통계처리는 정밀도를 위하여 필수적.
A6.1 提出了许多不同的方法，选择适合条件的方法很重要，但数据的统计处理对于精确性至关重要。

A6.2 Table 4에서 보여주는 일반적으로 사용하는 Size scale과 편리하게 관련이 없는 수많은 결과를 보고하는 많은 특별한 방법에 대하여 특성화.
A6.2 表显示了通常使用的尺寸比例，并对许多与之无关的结果进行了特征化，以及许多特殊方法。

습관적으로 많이 사용하는 방법은 그 고유의 의미 또는 긴 시간 사용에 따른 의미를 바탕으로 고정. 그러나 이런 측정 방법은 우선 사용자들에게 공감을 가지고 Table 4와 같이 Metric scale을 가지고 상응하는 ASTM grain size number로 변환되는 것을 강력히 추천. Intercept 또는 Planimetric을 바탕으로 표시하는 기본 측정방법은 ASTM grain size number가 이미 결정. 기본 Data가 다른 특성을 가진다면 측정은 ASTM grain size No. "x"와 동등하다고 표기하여야 한다. 변환은 Table 4 또는Annex A1 및 Annex A2의 관계로부터 계산.
习惯性地广泛使用的方法是基于其固有含义或长时间使用所产生的含义而固定。然而，强烈建议这种测量方法首先获得用户的共鸣，并转换为与 ASTM 晶粒尺寸编号相对应的度量标度，如表 4 所示。基于截面或平面的基本测量方法已确定 ASTM 晶粒尺寸编号。如果基本数据具有不同特性，则测量应标记为 ASTM 晶粒尺寸编号“x”等同。转换是根据表 4 或附录 A1 和附录 A2 的关系计算。

A6.3 예

A6.3.1 Example 1-Snyder 및 Graff procedure (11)는 공구강의 Austenite grain size의 측정방법으로 일반적으로 사용된다. 이는 Heyn intercept method (13.1참조)의 특별한 경우로 1000X 배율에서 5-in. (127-mm) test line에 있는 Intercept의 평균 수로 표시된다. ASTM grain size number 자체보다 즉각적으로 사용하기 편리. Snyder 및 Graff size number는 7.874를 곱하여 단위mm 당

로 사용하고 Table 4의 S&G No. 15는 ASTM grain size No. 10.5 가 되므로 의미를 가지게 된다. 더욱이 이 방법의 정밀도가 측정수의

에 못 미치므로 5 inch test line을

test line으로 바꾸어 8.0을 곱하여

을 직접적으로 구할 수 있다.
A6.3.1 示例 1-Snyder 和 Graff 程序(11)通常用于测量奥氏体晶粒尺寸的工具。这是 Heyn 截距法(参见 13.1)的一个特例，以 1000 倍放大率显示在 5 英寸(127 毫米)测试线上的拦截平均数。Snyder 和 Graff 尺寸编号乘以 7.874 以每毫米单位方便使用，并且 S&G No. 15 在表 4 中对应 ASTM 晶粒尺寸编号 10.5，因此具有意义。此外，由于该方法的精度不及测量数的

，因此将 5 英寸测试线更改为

测试线，乘以 8.0 即可直接计算

。

APPENDIXES
(Nonmandatory Information)

X1. RESULTS OF INTERLABORATORY GRAIN SIZE DETERMINATIONS10

X1.1 본 Interlaboratory test program은 Grain size 측정의 정밀도 및 오차를 예측하기 위하여 Chart comparison method, Planimetric method, Intercept method을 이용하여 수행
X1.1 本次实验室间测试计划旨在利用图表比较法、平面法和截面法来预测颗粒尺寸测量的精度和误差。

X1.2 Procedure

X1.2.1 두 개의 다른 Ferritic stainless steel 시편을 사용하며 하나는 다른 배율의 4개의 Photomicrographs (8 by 10 in.) 다른 시편은 서로 다른 배율의 3개 Photomicrographs (8 by 10 in.)를 사용하여 Grain size를 Chart method with Plate I, Planimetric, Intercept 등 3개의 방법으로 측정. Austenitic Hadfield's manganese steel도 3가지 방법으로 측정. 다른 미세조직은 비교법으로 평가하였으며 모든 경우

는 선명하게 보였다.
X1.2.1 使用两种不同的铁素不锈钢试样，其中一个使用 4 个不同放大倍率的光学显微照片（8x10 英寸），另一个使用 3 个不同放大倍率的光学显微照片（8x10 英寸）来通过图表方法、平面法、截面法等 3 种方法测量晶粒尺寸。奥氏体哈德菲尔德锰钢也用 3 种方法进行测量。不同的细微组织通过比较法进行评估，所有情况下都清晰可见。

X1.2.2 Planimetric method에서는 8 by

. Clear plastic template, Five

diameter test circles을 사용. Intercept method에서는 Single three-circle template 사용

X1.2.3 Planimetric method에서는 Template을 사진 위에 놓고 Tape로 고정. Intercept method에서는 무작위로
X1.2.3 Planimetric method 中，将模板放在照片上并用胶带固定。拦截方法中，随机选择。

5번 Grid를 사진 위에 놓고 측정. 이 차이가 Intercept method에 비하여 Planimetric method의 분산이 적은 이유로 추정됨.
将第 5 个网格放在照片上进行测量。据推测，这种差异较拦截方法小的原因是平面测量方法的方差较小。

X1.3 Results

X1.3.1 Figs. X1.1 및 X1.2는 Two ferritic stainless steels의 Grain size 결과

X1.3.2 Figs. X1.3 및 X1.4는 Percent relative accuracy가 측정 수에 따라 변하는 것을 보여주고 있다.
X1.3.2 图 X1.3 和 X1.4 显示了百分比相对精度随测量次数的变化。

Percent RA of

미만은 Planimetric method에서는 700개 이상의 Grains을 세어야 하며 Intercept method에서는 400 Grain boundary intersections 또는 Intercepts로 가능하여 Intercept method가 더 효과적.
百分比 RA 小于

的情况下，在平面法中需要计数 700 个以上的晶粒，而在截面法中则需要 400 个晶界交点或拦截，因此截面法更为有效。

X1.3.3 Tables X1.1 및 X1.2는 E 691에 따른 Repeatability 및 Reproducibility 분석. Intercept method가

Planimetric method 보다 우수.

X1.3.4 Fig. X1.5는 Planimetric 대 Intercept grain size rating을 표시. Data는 불규칙적인 분산을 보여주며 이는 양 쪽 방법에 의한 Grain size 측정에 차이가 없음을 표시.
X1.3.4 图 X1.5 显示了平面图与拦截颗粒尺寸评级。数据显示不规则分布，表明两种方法测量颗粒尺寸没有差异。

X1.3.5 측정하려는 각 미세조직은 두 가지 방법으로 고려되는데 하나는 실제 배율이고 하나는 100X 배율로 고려하는 것이다. Comparison method에서는 각 미세조직이 100X라고 가정.
X1.3.5 要测量的每个微组织都考虑了两种方法，一种是实际倍率，另一种是考虑为 100 倍率。在比较方法中，假设每个微组织为 100 倍率。

Intercept 및 Planimetric data는 이 가정을 이용하여 계산. Fig X1.6 및 X1.7는 100X 배로 가정하여 Chart comparison ratings 대 Planimetric 및 Intercept ratings을 Plotting. Data는 불규칙적으로 분산되지 않는다. 이는 Chart comparison ratings에서는 Bias가 일어나는 것을 의미하며 특히 0.5 1 G unit 보다 낮은 경우 즉 Planimetric 이나 Intercept measurement보다 거친 경우. 이 오차의 원인은 연구 중
拦截和平面数据是根据这个假设计算的。图 X1.6 和 X1.7 假设为 100 倍，将图表比较评级与平面和拦截评级绘制在一起。数据不会不规则地分散。这意味着图表比较评级存在偏差，特别是低于 0.5 1 G 单位的情况，即比平面或拦截测量更粗糙的情况。这种误差的原因正在研究中。

R&B ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

FIG. X1.1 Grain Size Measurements for the Series A Ferritic Stainless Steel Specimens

FIG. X1.2 Grain Size Measurements for the Series B Ferritic Stainless Steel Specimens

NOTE 1-The image analysis results for the same micrographs.

FIG. X1.3 Relationship Between the Number of Grains Counted and the Percent Relative Accuracy for the Planimetric Method

R&B ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

NOTE 1-The image analysis results for the same micrographs

FIG. X1.4 Relationship Between the Number of Intercepts or Intersections Counted and the Percent Relative Accuracy for the Intercept Method

TABLE X1.1 Results of ASTM Grain Size Round Robin (Planimetric Method)

Image

No./sq. mm

ASTM G

Average No.

Repeatability

Reproducibility

Repeatability

Reproducibility

846.64

6.77

1918.0

106.11

266.56

12.53

31.49

831.61

6.75

474.5

209.68

239.88

25.21

28.85

1046.98

7.08

150.5

499.42

489.10

47.70

46.72

978.49

6.98

35.5

785.07

765.18

80.23

78.20

1054.12

7.09

608.5

342.21

344.35

32.46

32.67

1069.41

7.11

152.5

464.60

452.27

43.44

42.29

1184.01

7.26

41.5

435.21

403.98

36.76

34.12

TABLE X1.2 Results of ASTM Grain Size Round Robin (Intercept Method)

Image

ASTM G

Average

Intercepts

Repeatability

Reproducibility

Repeatability

Reproducibility

29.9

6.84

811.5

3.25

9.37

10.87

31.35

29.8

6.85

396.0

5.65

6.33

18.96

21.24

27.2

7.11

222.5

8.28

8.16

30.43

30.00

29.0

6.93

102.0

14.90

16.46

51.37

56.77

26.1

7.23

450.0

4.96

7.96

19.01

30.51

26.7

7.17

223.5

6.19

7.01

23.20

26.26

26.6

7.18

113.0

8.84

9.86

33.24

37.08

FIG. X1.5 Comparison of the Grain Size Measurements for Each Micrograph by Each Operator by the Planimetric and Intercept Methods

R&B ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

NOTE 1-Chart plots by each rater and assumes the micrographs are at 100X magnification. The data generally fall to one side of the one to one trend line indicating a bias.

FIG. X1.6 Plot of the Comparison Chart Grain Size Ratings for Each Micrograph Versus the Planimetric Method Rating for Each Micrograph

FIG. X1.7 Plot of the Comparison Chart Grain Size Ratings for Each Micrograph Versus the Intercept Method Rating for Each Micrograph

X2. REFERENCED ADJUNCTS

X2.1 E 112와 연관된 자료로서 모든 부속자료는 ASTM에 준함
X2.1 E 112 和相关资料中的所有附属资料均符合 ASTM。

Adjunct:

Combination of 18 Components

Combination of Plates I, II, III, and IV

Plate I only

Plate II only

Plate III only

Plate IV only

Combination Transparencies, (Plate I) 00 through 10

Transparency, Grain Size 00

Transparency, Grain Size 0

Transparency, Grain Size 0.5

Transparency, Grain Size 1.0

Transparency, Grain Size 1.5

Transparency, Grain Size 2.0

Transparency, Grain Size 2.5

Transparency, Grain Sizes 3.0, 3.5, and 4.0

Transparency, Grain Sizes 4.5, 5.0, and 5.5

Transparency, Grain Sizes 6.0, 6.5, and 7.0

Transparency, Grain Sizes 7.5, 8.0, and 8.5

Transparency, Grain Sizes 9.0, 9.5, and 10.0

Fig. 5 only
Order Adjunct:

ADJE112CS

ADJE112PS

ADJE11201P

ADJE11202P

ADJE11203P

ADJE11204P

ADJE112TS

ADJE11205T

ADJE11206T

ADJE11207T

ADJE11208T

ADJE11209T

ADJE11210T

ADJE11211T

ADJE11212T

ADJE11213T

ADJE11214T

ADJE11215T

ADJE11216T

E11217F

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REFERENCES

(1) Hull, F. C., Transactions, "A New Method for Making Rapid and Accurate Estimates of Grain Size," American Institute of Mining and Metallurgical Engineers, Vol 172, 1947, p. 439

(2) Shepherd, B. F., "The P-F Characteristic of Steel," Transactions, Transactions of the American Society of Metals, Vol 22, December 1934, pp. 979-1016.

(3) Jeffries, Z., Kline, A. H., and Zimmer, E. B., "The Determination of the Average Grain Size in Metals," Transactions, American Institute of Mining and Metallurgical Engineers, Vol 54, 1917, pp. 594-607.

(4) Heyn, E., "Short Reports from the Metallurgical Laboratory of the Royal Mechanical and Testing Institute of Charlottenburg," Metallographist, Vol 5, 1903, pp. 37-64.

(5) Underwood, E. E., and Coons, W. C., "The Role of Quantitative Stereology in Deformation Twinning," Deformation Twinning, Gordon and Breach, New York, 1965, pp. 405-429.

(6) Hilliard, J., "Estimating Grain Size by the Intercept Method," Metal Progress, Vol 85, May 1964

(7) Abrams, H., "Grain Size Measurement by the Intercept Method," Metallography, Vol 4, 1971, pp. 59-78

(8) Mendelson, M. I., "Average Grain Size in Polycrystalline Ceramics," J. American Ceramic Society, Vol 52, August 1969, pp. 443-446.

(9) Arpi, R., "The Fracture Test as Used for Tool Steel in Sweden," Metallurgia, Vol 11, No. 65, March 1935, pp. 123-127.

(10) Vander Voort, G. F., "Grain Size Measurement," Practical Applications of Quantitative Metallography, ASTM STP 839, 1984, pp. 85-181.

(11) Snyder, R. W., and Graff, H. F., "Study of Grain Size in Hardened High Speed," Metal Progress, Vol 33, 1938, pp. 377-380.

ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size