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ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004)
Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

ASTM E 112 - 96 (Reapproved 2004) Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

INTRODUCTION

본 규격은 재료에 관계없이 평균 Grain size를 결정하는 방법으로 기본적인 개념은 Grain, Crystal, 또는 Cell의 평균 크기를 예측하는데 사용하며 표준 비교 Chart가 있는 경우는 비교방법을 사용한다. Intercept 와 Planimetric (면적측정) 방법은 어느 경우에나 사용하나 Comparison charts는 개별 Grain의 측정에는 사용할 수 없다.
本规格是一种确定平均晶粒尺寸的方法,与材料无关,基本概念是用于预测晶粒、晶体或细胞的平均大小,并在有标准比较图的情况下使用比较方法。拦截法和平面测量法在任何情况下都可以使用,但比较图不能用于单个晶粒的测量。

1. 범위

1.1 Planimetric (or Jeffries) procedure 와 Intercept procedures의 비교를 포함한 평균 Grain size의 측정 방법으로 금속 구조와 유사한 비금속 구조에도 적용가능하며 주로 단일 Phase에 적용하나 특별한 구조나 복합 Phase나 요소에도 적용 가능
1.1 平面法(或杰弗里斯法)和拦截法的比较,包括测量平均晶粒尺寸的方法,可适用于类似金属结构的非金属结构,主要适用于单一相,但也可适用于特殊结构或复合相或元素。
1.2 본 규격은 Grain 크기, 직경 또는 Intercept lengths의 최빈값 분포를 포함하는 시편의 평균 Grain 크기를 결정하는데 사용. 이 분포는 대략적으로 Log normal.
1.2 本规格用于确定试样的平均晶粒尺寸,其中包括 Grain 大小、直径或截距长度的最频值分布。该分布大致为对数正态分布。
2중 Grain 크기 분포를 가지는 시편의 특성은 ASTME 1181를 참조하고 작은 Grain matrix에 큰 Grain이 있는 경우는 ASTM E 930을 참조
1.3 본 규격은 2차원적인 특성평가로서 3차원적인 측정은 본 규격에서는 거론하지 않는다.
1.3 本规格是二维特性评估,三维测量在本规格中不涉及。
1.4 시험방법을 설명
1.5 본 규격은 단지 시험방법에 대한 것이며 여타 사항에 대한 것은 고려하지 않음.
1.5 本规格仅适用于测试方法,不考虑其他事项。
1.6 SI Units가 표준이며 Inch-pound 값은 참고 값
1.6 SI 单位是标准单位,英制单位值为参考值
1.7 본 규격은 안전에 관해 언급하지 않았으며, 사용에 있어 안전과 관련이 있을 경우 사용 전 적합한 안전과 건강에 대한 절차의 확립은 사용자에게 책임이 있다.
1.7 本规格未涉及安全问题,但如果与使用安全有关,用户有责任在使用前建立适当的安全和健康程序。
1.8 순서
Section
Scope
Referenced Documents
Terminology
Significance and Use
Generalities of Application
Sampling
Test Specimens
Calibration
Preparation of Photomicrographs 9
Comparison Procedure 10
Planimetric (Jeffries) Procedure 11
General Intercept Procedures 12
Heyn Linear Intercept Procedure 13
Circular Intercept Procedures 14
Hilliard Single-Circle Procedure 14.2
Specimens with Non-equiaxed Grain Shapes 16
Specimens Containing Two or More Phases or Constituents 17
Report 18
Precision and Bias 19
Keywords 20
Annexes:
Basis of ASTM Grain Size Numbers Annex A1
Equations for Conversions Among Various Grain Size Measurements Annex A2
Austenite Grain Size, Ferritic and Austenitic Steels Annex A3
Fracture Grain Size Method
Annex A4
Requirements for Wrought Copper and Copper-Base Alloys Annex A5
Application to Special Situations
Annex A6
Appendixes:
Results of Interlaboratory Grain Size Determinations Appendix X1
Referenced Adjuncts

2. 참고자료

2.1 ASTM Standards

E 3 Practice for Preparation of Metallographic Specimens
E 7 Terminology Relating to Metallography
E 407 Practice for Microetching Metals and Alloys
E 562 Practice for Determining Volume Fraction by Systematic Manual Point Count
E 691 Practice for Conducting an Interlaboratory Study to Determine the Precision of a Test Method
E 883 Guide for Reflected-Light Photomicrography
E 930 Test Methods for Estimating the Largest Grain Observed in a Metallographic Section (ALA Grain Size)
E 1181 Test Methods for Characterizing Duplex Grain Sizes
E 1382 Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis
2.2 ASTM Adjuncts:
2.2.1 For a complete adjunct list, see Appendix X2
  1. 용어
3.1 정의-Terminology E 7에 준함
3.2본 규격에 대한 용어정의
3.2 规范的术语定义
3.2.1 ASTM grain size number-ASTM grain size number, G
에서 당 Grain 수. 배율에서 당 수는 15.50 을 곱함
处的粮食数量。在 倍率下,每 单位为 15.50。
3.2.2 Grain-2차 또는 3차원적으로 둘러 쌓인 면적. Twin boundaries는 무시하여 하나의 Grain으로 평가
3.2.2 粒界-被第二或第三维度包围的区域。忽略双晶界,将其评估为一个晶粒。
3.2.3 Grain boundary intersection count-Test line과 만나는 입계의 수로서 경계에 걸리는 경우에는 1/2로 계산
3.2.3 颗粒界面交叉计数-当与测试线相交的颗粒界面数,如果横跨边界,则计为 1/2。
3.2.4 Grain intercept count-Test line과 만나는 Grain의 수로 경계에 걸리는 경우에는 로 계산
3.2.4 粮食拦截计数-当与测试线相遇的粮食数量达到边界时,计为
3.2.5 Intercept length—두 개의 근접한 Grain boundary intersection points사이의 거리
3.3 Symbols
Matrix grains in a two phase (constituent) microstructure
A Test area.
Mean grain cross sectional area
Grain elongation ratio or anisotropy index for a longitudinally oriented plane.
Mean planar grain diameter (Plate III)
Mean spatial (volumetric) grain diameter.
Jeffries multiplier for planimetric method.
ASTM grain size number.
Mean lineal intercept length.
Mean lineal intercept length of the a matrix phase in a two phase (constituent) microstructure.
Mean lineal intercept length on a longitudinally oriented surface for a nonequiaxed grain structure.
Mean lineal intercept length on a transversely oriented surface for a nonequiaxed grain structure.
Mean lineal intercept length on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
Base intercept length of for defining the relationship between and (and ) for macroscopically or microscopically determined grain size by the intercept method.
Length of a test line.
Magnification used.
Magnification used by a chart picture series.
Number of fields measured.
Number of a grains intercepted by the test line in a two phase (constituent) microstructure.
Number of grains per at .
Number of a grains per mm2 at in a two phase (constituent) microstructure.
Number of grains per inch2 at 100X.
on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
Number of intercepts with a test line.
Number of grains completely within a test circle.
Intercepted Number of grains intercepted by the test circle.
Number of intercepts per unit length of test line.
on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
Number of grain boundary intersections with a test line.
Number of grain boundary intersections per unit length of test line.
on a longitudinally oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a transversely oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
on a planar oriented surface for a non-equiaxed grain structure.
Correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for microscopically determined grain sizes.
Correction factor for comparison chart ratings using a non-standard magnification for macroscopically determined grain sizes.
Standard deviation.
Grain boundary surface area to volume ratio for a single phase structure.
Grain boundary surface area to volume ratio for a two phase (constituent) structure.
Students' multiplier for determination of the confidence interval.
Volume fraction of the a phase in a two phase (constituent) microstructure.
confidence interval.
Percent relative accuracy

4. 의미와 사용

4.1 본 시험방법은 단상으로 구성된 금속 시편의 평균입도를 결정하는 과정을 포함하며 비교 Chart에 보여주는 금속구조와 유사한 구조에도 사용한다. 기본적인 세가지 방법은 다음과 같다.
4.1 本测试方法包括确定由单相金属试样组成的平均粒度的过程,并且也适用于具有类似金属结构的结构,显示在比较图表中。基本的三种方法如下。
4.1.1 비교법-이 방법은 각 Grain, Intercepts, Intersections을 셀 필요가 없으나 Wall chart, Clear plastic overlays, 또는 Eyepiece reticle 등의 Graded image가 필요하며 Grain이 큰 경우는 정도 낮게 오차가 발생한다. (X1.3.5 참조)
4.1.1 比较法-这种方法不需要计算每个颗粒、截距、交点,但需要壁图、透明塑料叠层或目镜网格等评分图像,当颗粒较大时,误差可能会低约 。(参见 X1.3.5)
Repeatability 및 Reproducibility는 약 Grain size number
4.1.2 Planimetric Procedure-Planimetric method (면적법)는 일정 영역에 있는 Grain 수를 직접 세는 방법으로
4.1.2 平面程序-平面法(面积法)是直接计算特定区域内的颗粒数量的方法。
단위면적당 Grain 수 는 ASTM grain size number, 의 계산에 사용한다. 정밀도는 Grain 수의 함수.
单位面积的晶粒数 是 ASTM 晶粒尺寸编号 的计算所用。精度取决于晶粒数。
Grain size units의 정밀도를 가지며 결과는 비교적 오차가 적으며 Repeatability와 Reproducibility는 grain size 단위보다 작다. 정확하게 측정하려면 이미 측정한 Grain은 표시를 하여야 한다.
具有约 颗粒尺寸单位的精度,结果相对误差较小,重复性和再现性比 颗粒尺寸单位小。要准确测量,必须标记已测量的颗粒。
4.1.3 Intercept Procedure-이 방법은 시험 Line과 만나는 Grain 또는 Grain boundary의 수를 측정하여 단위 길이 당 수를 구하고 평균 Lineal intercept length, 를 구한다. 이 는 ASTM grain size number, G를 결정. 이 방법의 정밀도는 Intercepts 또는 Intersections 수의 함수이다. Grain size units 정밀도가 가능하며 결과는 비교적 오차가 적으며 Repeatability와 Reproducibility는 Grain size 단위보다 작다.
4.1.3 拦截程序-该方法通过测量与测试线相交的颗粒或晶界的数量来计算每单位长度的数量,并计算平均线性拦截长度, 。这个 确定了 ASTM 晶粒尺寸编号 G。该方法的精度是拦截或交叉点数量的函数。 晶粒尺寸单位的精度是可能的,结果相对误差较小,重复性和再现性比 晶粒尺寸单位小。
Planimetric 방법보다 빠른 편.
4.2 Grain의 크기가 거의 일정할 경우에는 Chart 비교법이 가정 유효하며 충분히 정확한 방법이나 일정하지 않은 경우에는 Intercept 또는 Pplanimetric 방법을 사용하는 것이 정확하며 이중 Intercept 방법이 더 효율적. 4.3 논란이 있는 경우에는 Intercept 방법을 따른다.
4.2 如果 Grain 的大小几乎是固定的,那么 Chart 比较法是有效的且足够准确的方法,但如果大小不一致,则使用 Intercept 或 Pplanimetric 方法更准确,其中 Intercept 方法更有效。4.3 在有争议的情况下,应采用 Intercept 方法。
4.4 심한 가공을 한 경우에는 평균 입도를 예상하면 안 된다. 부분적인 재결정이나 적당히 가공된 재료의 경우 입도를 측정하여야 한다면 Grain크기는 동일하지 않다고 고려한다.
4.4 如果进行了严重的加工,则不应预期平均粒径。对于部分再结晶或适当加工的材料,应考虑粒径不相同。
4.5 표준 비교 Chart를 이용하여 개별적인 Grain의 크기를 측정하면 안 된다. 이 Charts는 일반적인 Grain 크기의 Log-normal 분포를 반영하도록 구성. Grain의 3차원적인 배열 및 단면에 좌우되는 매우 작은 크기부터 매우 큰 크기의 영역을 가지는 Grain 분포를 나타내므로 Chart는 각 Grain의 측정에 사용할 수는 없다.
不应使用标准比较图表来测量单个颗粒的大小。这些图表被设计为反映一般颗粒大小的对数正态分布。由于颗粒具有三维排列和受截面影响的非常小到非常大的范围,因此图表不能用于测量每个颗粒。

5. 응용의 일반성

5.1 이런 방법들을 사용하여 평균입도를 예측한다는 것이 부정확하다는 것을 인식하는 것이 중요. 어떤 영상이나 두 가지의 결과는 정확히 일치 하지 않는다.
5.1 使用这些方法来预测平均入度是不准确的,认识到这一点是很重要的。任何图像或两个结果都不会完全匹配。
5.2 Grain의 크기 및 위치는 일반적으로 완전히 불 균일하다. 따라서 측정 Field의 선택은 가급적 모재의 특성을 대별할 수 있는 부분을 선택하여야 정확한 평균입도를 구할 수 있다. 따라서 편견 없이 상을 선택하는 다양한 방법을 사용하여야만 정확한 측정이 가능하다.
5.2 粒子的大小和位置通常是非常不均匀的。因此,应尽量选择能够代表颗粒特性的部分来测量颗粒。只有使用不带偏见的选择方法,才能进行准确的测量。

6. Sampling

6.1 시편은 평균적인 조건을 나타낼 수 있도록 준비하여야 하며 시편위치, 빈도 등은 제조자와 사용자의 합의 따른다.
6.1 诗篇应该准备得以反映一般条件,诗篇的位置、频率等应根据制造商和用户的协商确定。
6.2 시편은 Grain의 변형이 일어나는 곳 즉 Shearing, Burning 근처에서 채취 금지
6.2 诗篇是在 Grain 变形发生的地方,即剪切、燃烧附近禁止采集

7. 시편

7.1 Grain 구조가 등축정이라면 방향에 상관 없으나 변형 축과 평행한 면에서 측정하는 것이 일반적.
7.1 如果晶粒结构是等轴晶,则测量方向无关紧要,但通常是在变形轴和平行面上进行测量。
7.2 만일 횡축으로 방향성을 가지는 시편이 등축정이고 입도측정을 이 면에서 한다면 이 방법의 정밀도를 가지는 값을 얻을 수 있다. 만일 Grain이 등축정이 아니라면 즉 한쪽으로 연신된 상태라면 방향에 따라 달라진다. 이 경우 Grain의 크기는 3축 Transverse, Longitudinal, Planar 중 적어도 2축에서 검증하여 평균값을 16장에 따라 구한다. 만일 Directed test lines을 사용한다면 Non-equiaxed grains에 대한 Intercept counts는
7.2 如果具有横轴方向性的晶粒是等轴的,并且在此面上进行入射角测量,则可以获得具有此方法精度的值。 如果晶粒不是等轴的,即朝向一侧延伸,则取决于方向。 在这种情况下,晶粒的尺寸在 3 轴横向、纵向、平面中至少在 2 轴上进行验证,并根据 16 张平均值计算。 如果使用定向测试线,则非等轴晶粒的截距计数是
2축에서도 가능하나 Planimetric 방법에서는 3축에서 평균을 낸다.
在 2 轴上也是可能的,但在平面法中,是在 3 轴上取平均值。
7.3 Polishing 면적은 박판이나 Wire가 아니라면 측정 배율에서 적어도 5 번 정도를 측정할 수 있는 면적을 가져야 하며 일반적으로 가 적당.
7.3 抛光面积应该具有至少可以测量 5 次的测量倍率,除非是板材或线材,通常 是合适的。
7.4 시편은 절단 후 Mounting, Grinding, Polishing을 ASTM E 3에 따라 준비하고 ASTM E 407에 따라 모든 입계가 나타나도록 부식하여 준비. (Annex A3참조)
7.4 詩篇在切割后进行上样、研磨、抛光,按照 ASTM E 3 准备,并按照 ASTM E 407 腐蚀以确保所有晶界都显现。 (参见附录 A3)
TABLE 1 Suggested Comparison Charts for Metallic Materials
NOTE 1-본 제안은 산업체의 실제방법에 기반.
注意 1-本提案基于工业界的实际方法。
특별한 방법에 따라 준비한 시편에 8.2에 따라 적절한 비교표준을 선택
根据特殊方法准备的诗篇,根据 8.2 选择适当的比较标准
Material Plate Number Basic Magnification
Aluminum I
Copper and copper-base alloys (see III or IV
Annex A4)
Iron and steel: II or IV
Austenitic I
Ferritic IV
Carburized II
Stainless II II
Magnesium and magnesium-base alloys I or II
Nickel and nickel-base alloys I or II
Super-strength alloys I or II
Zinc and zinc-base alloys
  1. 교정
8.1 Stage micrometer를 사용하여 각 Objective, Eyepiece, Bellows의 실제 배율을 이내로 교정 8.2 Grid로 사용하는 Straight test lines 또는 Test circles의 직경을 scale로 교정
8.1 使用舞台目镜器校准每个物镜、目镜和伸缩镜的实际放大倍率,误差在 以内 8.2 用网格校准直线测试线或测试圆的直径,比例为

9. Preparation of Photomicrographs

9.1 Photomicrographs를 사용하는 경우 ASTM E 883에 따라 준비
9.1 使用光学显微镜时,按照 ASTM E 883 准备
  1. Comparison Procedure (비교법)
10.1 이 방법은 등축정을 가지는 완전 재결정 조직이나 주조재료에 적용
10.1 这种方法适用于具有等轴晶的完全再结晶组织或铸造材料。
10.2 좀 더 편리한 비교법을 사용하는 경우 조심하지 않으면 오차가 발생
10.2 使用更方便的比较方法时,如果不小心,可能会出现误差
오차를 줄이기 위하여 비교 Charts는 아래와 같이 4 분류를 사용
为了减少误差,比较图表使用以下 4 个分类
10.2.1 Plate I—Untwinned grains (flat etch), 기준
Grain size numbers .
10.2.2 Plate II—Twinned grains (flat etch). grain size numbers, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, at 100X
10.2.3 Plate III—Twinned grains (contrast etch). nominal grain diameters at
10.2.4 Plate IV—Austenite grains in steel (McQuaid-Ehn) grain size numbers 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, at 100X
10.3 Table 1은 평균 입도를 측정할 때 재질에 따른 비교 Chart를 예시하며 예로 Twinned copper 및 Brass의
10.3 表 1 是一个比较图表的例子,用于测量不同材料的平均粒径,例如孪晶铜和黄铜。
Contrast etch 경우 Plate III 사용
NOTE 1-Plates I, II, III, IV 는 Fig. 1, Fig. 2, Fig. 3, and Fig. 4 참조
10.4 미세조직학적으로 결정하는 Grain size의 예상은 적절한 Chart와 같은 배율에서 직접 비교하여 결정.
10.4 通过细胞组织学确定的晶粒尺寸的预期是通过在适当的图表上直接比较来确定的。
FIG. 1 Example of Untwinned Grains (Flat Etch) from Plate I. Grain Size No. 3 at 100X
FIG. 2 Example of Twin Grains (Flat Etch) from Plate II. Grain Size No. 3 at 100X
FIG. 3 Example of Twin Grains (Contrast Etch) from Plate III. Grain Size at
10.5 관측자 입장에서 평균입도를 정확하게 평가하기 위해서는 사용하는 배율, 적절한 면적, 선택되는 시편의 위치 및 수량, Field의 수를 잘 선택하여야 한다. 적정한 면적의 선택은 5.2장 참조 10.6 Grain size의 예상은 각 시편에서 적어도 3곳 이상에서 측정하여 평가.
10.5 从观察者的角度来准确评估平均颗粒尺寸,需要选择适当的放大倍数、适当的面积、选择的试样位置和数量,以及正确选择 Field 的数量。选择适当的面积请参考 5.2 节 10.6 颗粒尺寸的预期是在每个试样中至少从 3 个位置进行测量以评估。
FIG. 4 Example of Austenite Grains in Steel from Plate IV. Grain Size No. 3 at 100X
TABLE 2 Microscopically Determined Grain Size Relationships Using Plate III at Various Magnifications NOTE 1-First line—mean grain diameter, , in ; in parentheses-equivalent ASTM grain size number, . NOTE 2-Magnification for Plate III is 75X (row 3 data). Magnification
表 2 使用不同放大倍率在第三页上确定的显微镜下晶粒尺寸关系 注意 1-第一行-平均晶粒直径, ,单位 ;括号内-等效 ASTM 晶粒尺寸编号, 。 注意 2-第三页的放大倍率为 75 倍(第 3 行数据)。 放大倍率
Magnification Chart Picture Number (Plate III)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
0.015
0.030
0.045
0.060
0.075
0.105
0.135
0.150
0.180
0.210
0.270
0.360
0.451
0.600
0.0075
0.015
0.0225
0.030
0.0375
0.053
0.0675
0.075
0.090
0.105
0.135
0.180
0.225
0.300
0.005
0.010
0.015
0.020
0.025
0.035
0.045
0.050
0.060
0.070
0.090
0.120
0.150
0.200
0.00375
0.0075
0.0112
0.015
0.019
0.026
0.034
0.0375
0.045
0.053
0.067
0.090
0.113
0.150
0.0019
0.00375
0.0056
0.0075
0.009
0.013
0.017
0.019
0.0225
0.026
0.034
0.045
0.056
0.075
-
0.0025
0.0037
0.005
0.006
0.009
0.011
0.0125
0.015
0.0175
0.0225
0.030
0.0375
0.050
- -
0.003
0.004
0.005
0.007
0.009
0.010
0.012
0.014
0.018
0.024
0.030
0.040
10.7 Grains이 표준 Photographs영역 바깥인 경우에나 배의 배율이 적절치 않은 경우는 Note 2 및 Table2와 같이 다른 배율을 적용할 수 있다. 이 경우 적용한 배율을 단순히 기존 배율에 곱하여 사용
10.7 Grains 如果超出标准 Photographs 区域,或者 倍放大倍率不合适的情况下,可以应用不同的倍率,如注 2 和表 2 所示。在这种情况下,所应用的倍率只需简单地乘以现有倍率。
NOTE 2-Grain size를 ASTM numbers로 표시하는 경우 아래 관계식을 사용
注意 2-当用 ASTM 编号表示晶粒尺寸时,请使用以下关系式
는 보정계수로서 실제 ASTM grain-size number에 상응하는 기존배율 (75X or 100X) 대신 배율 에서 보이듯이 시편의 Apparent micro-grain size에 더한다. 따라서 25X의 경우, 실제 ASTM grain-size number는 100X 의 경우보다 4 가 낮다. 같은 맥락으로 의 경우 실제 ASTM grain-size number는 에서 보다 4만큼 높다.
是一个校正系数,它在实际的 ASTM 晶粒尺寸编号上,相对于原有放大倍率 (75X 或 100X),添加到样品的表观微粒尺寸上,如放大倍率 所示。因此,在 25X 的情况下,实际的 ASTM 晶粒尺寸编号比 100X 的情况低 4。同样地,在 的情况下,实际的 ASTM 晶粒尺寸编号比 高 4。
10.8 Chart series중 양 끝단, 즉 가장 거친 Size 00은 Grain의 수가 적고 Grain이 매우 작은 경우는 정확한 비교가 어렵다. Grain 크기가 양단에 걸리는 경우에는 배율을 조절하여 Chart의 중심에 오도록 조절하는 것이 의미 있는 분석이 가능하다.
10.8 图表系列中的两端,即最粗糙的 Size 00,当颗粒数量少且颗粒非常小的情况下,精确比较变得困难。 当颗粒大小位于两端时,通过调整比例尺使图表中心对齐是可以进行有意义的分析的。
10.9 Microscope screen image에 Wall chart를 사용하는 것 보다는 투명지 또는 인쇄된 표준과 측정할 조직을 나란히 놓고 비교하는 것을 선호한다.
10.9 我更喜欢将透明片或印刷的标准与要测量的组织并排放置,而不是在显微镜屏幕图像上使用墙图。
10.10 측정자 사이의 약간의 차이는 문제가 없다.
10.10 测量者之间的轻微差异并不是问题。
10.11 측정자가 반복하여 측정하는 경우 초기 예상한 값에 대한 편견을 가질 수 있으므로 배율이나 렌즈 등을 바꾸는 방법으로 극복
10.11 如果测量者重复测量,可能会对最初预期的值产生偏见,因此可以通过更改倍率或镜头等方式来克服。
10.12 매우 큰 Grain의 경우는 적절히 준비된 시편이나 시편을 나타내는 사진을 표준 Grain series인 Plate I (Un-twinned 재료), Plates II, III (Twinned 재료)와 실 배율(1X)로 직접 비교하여 Grain size를 추정.
10.12 对于非常大的晶粒,可以通过适当准备的样品或代表晶粒的照片,直接与标准晶粒系列 Plate I(非孪晶材料)、Plate II、III(孪晶材料)进行比较,并估计晶粒尺寸。
표준 Grain size series는 75배나 100배로 만들어 졌기 때문에 이 방법으로 예측한 Grain size는 표준 ASTM grain-size series에 포함되지 않으므로 평균 Grain 직경이나 Table 3에 명시된 Macro-grain size numbers로 표시하여야 한다. 너무 작은 Macroscopic grain sizes는 이 방법을 사용하려면 고 배율과 Note 3의 보정값을 사용한다.
标准晶粒尺寸系列是通过扩大 75 倍或 100 倍制成的,因此通过这种方法预测的晶粒尺寸不包括在标准 ASTM 晶粒尺寸系列中,因此应该用平均晶粒直径或表 3 中列出的宏观晶粒尺寸数字来表示。如果宏观晶粒尺寸太小,则在使用此方法时需要使用高倍率和注释 3 中的校正值。
NOTE 3-ASTM macro-grain size numbers로 표시한다면 아래식을 사용하는 것이 편리
注意 3-如果用 ASTM 宏观晶粒尺寸编号表示,则使用下式更方便
대신 배율에서 관찰할 때 Apparent grain size에 더해주는 보정값.